中古 PHILIPS / FEI CM20 #293766563 を販売中

PHILIPS/FEI CM20は、ナノメートルスケールで標本の高分解能、安定したイメージングを提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、材料科学、生物学、半導体の故障解析など、さまざまな用途に適した汎用性の高いイメージング機器であるように設計されています。FEI CM20は、より高い電子収率のための広い領域フィールド放出源、低圧イメージング環境を提供する高真空システム、および低真空観測のための高真空トランスファーチャンバーを備えています。SEMには、色間比較機能を備えた光学カメラも搭載しています。PHILIPS CM 20は、明るいフィールド、暗いフィールド、差動干渉コントラスト（DIC）などの高性能イメージング機能を備えています。最先端の真空システムにより、高真空モードと低真空モードの両方での観察が可能です。また、このスコープは、特定の同位体同位体識別および組成情報のために、軸上および軸外逆散乱型電子エネルギーフィルタを利用しています。PHILIPS CM20は、大面積イメージング用のアレイ検出器や高スループット検出器、地形と組成の両方を同時に撮影できる二次電子検出器など、さまざまな検出器で動作するように設計されています。FEI CM 20はまた、低真空モードと高真空モードの両方で自動画像を取得する機能を備えており、高度な3Dイメージングと試験片の表面フィーチャーの分析を可能にします。その他のイメージング機能は、任意の傾斜角度操作と、さまざまな角度でのイメージスキャンのための自動標本ステージ操作で構成されています。SEMはまた、統合されたマイクロアナリシス・ソフトウェアと組み合わせた元素分析用のEDX検出器を備えており、標本の化学組成および元素構造の分析に使用できる多次元イメージングデータを提供します。最後に、PHILIPS/FEI CM 20には、Eビームリソグラフィ装置、広範囲の試料ホルダー、二次電子検出器、ガンアライメントおよびオートフォーカス装置など、さまざまなアクセサリーが搭載されています。これらのアクセサリは、CM 20の高解像度イメージング機能と組み合わせて、半導体の故障解析から材料科学研究まで、さまざまなアプリケーションを可能にします。