中古 PHILIPS / FEI CM20 #293686733 を販売中

PHILIPS/FEI CM20は、幅広い用途における表面の非破壊解析のために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、最大1nmの二次電子（SE）イメージング分解能を有し、低kVで優れた性能を発揮し、微細な特徴の充電と最適な分解能を低減します。最新のFEI EDAXソフトウェアを搭載しており、循環解析、グリッド/グリッドレス測定、画像セグメンテーション、グラフェン特性評価、パーティクルトラッキングなどの画像処理機能を提供します。また、迅速な結果を得るためのオンボードイメージ解析ソフトウェアと、データを保持するためのイメージストレージシステムも統合されています。FEI CM20には、可能な限り低いエネルギーを持つ電子ビームであるコールドフィールドエミッションガン（FEG）があり、利用可能な最高解像度のイメージングを可能にします。また、ビームブランカーは試料の充電を減らし、サンプル損傷を最小限に抑えることができます。さらに、セット点制御SE検出器は、一定の結果を得るために時間とともに固定状態を保持し、ビーム安定化機能を内蔵して画像安定性を保証します。顕微鏡に大きい作動距離があり、標本への容易なアクセシビリティを提供します。ステージは電動化されており、サンプルの周りを便利にナビゲーションできます。機械にまた高真空および低真空環境を含む拡大された適用機能のための調節可能な部屋圧力が、あります。PHILIPS CM 20は堅牢で信頼性が高く、さまざまな非破壊用途に非常に高解像度のイメージングを提供します。その統合された制御システム、ソフトウェア、検出器やアクセサリは、すべてのスキルレベルのユーザーのための貴重なSEMイメージングツールになります。