中古 PHILIPS / FEI CM120 #293646004 を販売中

ID: 293646004
Transmission Electron Microscope (TEM).
PHILIPS/FEI CM120走査型電子顕微鏡は、幅広い標本の詳細で大規模なイメージングと分析のための強力なツールです。金属、セラミックス、プラスチック、生物組織など、さまざまな材料の印象的で立体的な画像をユーザーに提供します。高い解像度と広い被写界深度により、シャープで立体的な画像でも最小の特徴を観察することができます。FEI CM120走査型電子顕微鏡は、バルク標本や不純物を容易に貫通できる高エネルギー電子ビームで設計されています。これにより、他の電子顕微鏡では難易度の高い厚い標本のイメージングに最適です。PHILIPS CM 120は、さまざまな用途で優れたイメージング結果を保証するために、さまざまな検出器と拡大鏡を備えています。スキャン電子検出器は、優れたコントラストと解像度で強力な画像を提供します。これは、標本表面の細部を撮影するのに特に役立ちます。後方散乱電子検出器は、バルク結晶構造の観察を可能にします。反射電子検出器は、他の検出器で検出するには小さすぎるものを含め、微粒子の優れた画像を提供します。最後に、検出器アレイは、複数の配置された検出器で高倍率の画像処理を容易にし、全体的な画像を作成します。FEI CM 120スキャン電子顕微鏡には、信号処理および画像解析用のハードウェアも内蔵されています。これには、高倍率で画像を撮影するための最適化されたCCDビデオカメラ、電子ビームを制御するための統合フィルタシステム、および検出器からのデータを分析するための信号プロセッサが含まれます。CM120はまた、サンプル操作のための電動ステージを備えており、手動でステージを調整する必要なく、標本の位置を変更することができます。CM 120スキャン電子顕微鏡は、さまざまな標本を画像化して分析するための非常に強力なツールです。PHILIPS CM120は、高解像度で広範囲の検出器と拡大鏡を備えており、最も難易度の高い素材の鮮明で詳細な画像をユーザーに提供することができます。その信号処理と画像解析ハードウェアの範囲は、ユーザーが自分のデータから迅速に分析し、発見することができます。
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