中古 PHILIPS / FEI CM12 #9284248 を販売中

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ID: 9284248
Scanning Electron Microscope (SEM) With GATAN Ultrascan 4000 Oneview camera Thermionic electron Image resolution: Point to point: ≤0.34nm Line to line: 0.2nm Transmission (TEM) Scanning transmission (STEM) Selected area diffraction (SAD) Micro-diffraction (μD) Convergent beam electron diffraction (CBED) Bright field X-Ray Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Elemental spectra Map Transect profile data Modes: Dark field operating Standard TEM Scanning Powerful pre optimized recording 16 Megapixel CMOS sensor: Sensitivity Speed LaB6 OneView camera excels Unparalleled 25 fps Real time drift correction Dynamic range extension Focused beam with high current Density small diameter EDS X-ray micro analysis Spatial resolution micro analysis Bulk (about 0.5 -3 microns) STEM wide range: Imaging Analytical capabilities EDS System Dynamic processes with N-Situ electron microscopy 4096 x 4096 Ppixels 25 fps 512 x 512 Pixels over 300 fps 25 Frames per second 4000 x 4000 Resolution 16 pixel CMOS Sensor Magnification range: 31x to 660000x Thermionic electron source Selectable beam acceleration voltage 20kV -120kV.
PHILIPS/FEI CM12は、優れた構造解像度と高性能イメージング機能を提供する、収差補正型スキャン電子顕微鏡(SEM)です。ハイエンド電子顕微鏡システムの世界的リーダーであるFEIが製造した最上位の走査型電子顕微鏡です。FEI CM12の最先端の設計は、インレンズ電子光学系を採用しており、収差補正を強力に行うことができ、従来のスキャン顕微鏡に比べて画質が大幅に向上し、サンプルハンドリング機能が向上しました。低加速電圧とは、低エネルギー電子がイメージングに使用されることを意味し、その結果、コントラストが改善され、優れたイメージングのための二次電子収率が得られます。この電子顕微鏡は、電子レンズ収差補正や高度なコントラスト改善などの高度なビームシェーピング技術を活用し、最高の画質を確保しています。ビームシェーピングプロセスは、高倍率で画像の品質を低下させることができる色収差を除去するのにも役立ちます。PHILIPS CM 12は、多種多様なサンプルタイプで1nmまでの高解像度イメージング機能を実現します。また、高解像度のソリッドステート検出器と組み合わされたエネルギーフィルタリングユニットは、元素マッピングから電子トモグラフィまで、幅広い画像処理能力を提供します。リモートアクセスを提供することで、科学者は研究のスピードと柔軟性を強化することができます。これにより、顕微鏡から離れた別の領域からSEMを制御する利便性が向上し、システムを同軸にすることなく実験に集中することができます。CM12は優れたパフォーマンスを提供し、柔軟性とユーザーフレンドリーの両方を実現する追加機能とオプションを備えています。優れた収差補正機能、高解像度イメージング、および広範なイメージングオプションを備えたCM 12は、高解像度イメージングアプリケーションに最適です。
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