中古 PHILIPS / FEI CM12 #293649963 を販売中

PHILIPS/FEI CM12 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールでサンプルの高解像度画像を得るための先進的な装置です。このシステムは、優れたイメージングおよび分析機能を可能にするいくつかの正確な機能を備えているため、現在市場で入手可能な最も強力な走査型電子顕微鏡の1つです。FEI CM12には、100,000Xまでの広い倍率範囲の高度な電子光学ユニットが装備されています。この顕微鏡は画期的な磁気ビーム偏向技術を備えており、イメージスポットサイズと形状を精密かつ高速に制御することができます。このような精密な制御は、ナノスケールの精密で詳細な画像を得るために重要です。また、PHILIPS CM 12は、二次電子、後方散乱電子、X線検出器などの高度な装置を搭載しており、高速イメージング方式を採用しています。この顕微鏡には、信号対ノイズ比を向上させ、他のSEMと比較してノイズレベルを低減する独自のプリアンプパネルが組み込まれています。また、CM12には、エネルギー分散X線解析（EDXA）、電子後方散乱回折（EBSD）、充電結合デバイス（CCD）イメージングなど、幅広い分析技術が搭載されています。これらの技術により、ユーザーは無機物から有機物まで幅広い材料を識別、測定、分析することができます。FEI CM 12は、運転中に高真空レベルを維持する必要な真空ツール、真空チャンバーに近づきすぎる物体や人を検出する衝突防止検出器など、さまざまな高度な安全機能を備えています。これは、顕微鏡やサンプルへの損傷のリスクを軽減するのに役立ちます。PHILIPS/FEI CM 12の視覚資産も高度に洗練されており、高度な画像変更、解析、アノテーションシステムを備えています。これにより、ユーザーは画像を正確に調整し、サンプルを詳細に分析することができます。全体として、PHILIPS CM12 Scanning Electron Microscopeは、その倍率範囲、イメージング速度、および分析能力において優れた性能を提供する高度なイメージング技術です。その安全機能により、幅広いナノ構造イメージングおよび解析アプリケーションに最適です。