中古 PHILIPS / FEI CM100 #9202885 を販売中

PHILIPS/FEI CM100は、高解像度で標本の詳細な画像を研究者に提供するために設計された印象的な機能セットを備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI CM100は、熱的にも振動的にも安定した高性能の環境SEMプラットフォームで、幅広い用途に対応する超微細な断面イメージングおよび解析機能を提供します。高度なデジタルシグナルプロセッサ（DSP）ベースのモーションコントロール、デジタルイメージングズーム（DIZO）、イメージシフト機能（ISF）などの高度なイメージングツールは、より迅速かつ正確なローカライズと高解像度のイメージングをもたらします。PHILIPS CM100は、SEMカラムとサンプルステージの2つの主要コンポーネントを使用しています。強力なSEMカラムには、最大30kVまでの加速電圧を持つ電子ソース、完全に自動化された自動チューニングおよびガンチューニング機能、およびデジタル信号プロセッサ（DSP）-ドライブオートフォーカスシステムが含まれています。この組み合わせにより、研究者はサンプルの超高解像度の画像と分析を得ることができます。サンプルステージには、プラットフォームスキャン制御と電動サンプルステージがあり、正確な試料操作が可能です。また、CM100には、表面イメージング用の二次電子検出器（SED）と、断面イメージング用のLKV二次電子検出器（LKV-SED）が搭載されています。PHILIPS/FEI CM100は、サンプルを最大限に分析するための高度なツールも提供しています。特許取得済みのMEM-CAD機能により、研究者は同じサンプルから大量のデータを複数の回転ステップで画像化して蓄積し、効果的な3D再構成画像解析を行うことができます。DIC （Digital Image Correlation）機能は、表面の地形やシフト効果を正確に測定することで、FEI CM100のパフォーマンスをさらに向上させます。最後に、AFR （Automated Feature Recognition）により、統計および注釈機能とともに、さまざまなパラメータを自動的に認識することで、データを正確に分析できるようになります。要するに、PHILIPS CM100は、比類のない画質と汎用性の高い分析ツールを提供する高度な走査型電子顕微鏡です。その高感度検出器と強力な機能は、研究者に彼らのサンプルの詳細な画像と包括的なデータを提供することができます。CM100は、さまざまな研究アプリケーションに最適なプラットフォームです。