中古 PHILIPS / FEI CM100 #293659026 を販売中

ID: 293659026
Transmission Electron Microscope (TEM) With BRUKER Energy Dispersive Spectrometer (EDS).
PHILIPS/FEI CM100走査型電子顕微鏡(SEM)は、研究および産業用途の両方で使用される高度な画像処理装置です。このパワフルな計測器は、大きな電界放出電子柱と近代的な画像キャプチャ装置を備えています。FEI CM100 SEMは、低電圧フィールド放出銃(FEG)で動作します。これは、試料の内部表面に向けられた非常に集中した低エネルギーの電子ビームを生成します。電子は物質と相互作用し、表面の輪郭、組成、構造によって決定されるさまざまな信号を生成します。この相互作用は増幅され、電子検出器によって収集され、これは2次元画像を作成するために使用されます。PHILIPS CM100は、30,000X電圧を犠牲にすることなく達成することができる400,000Xから15kV-accelerationまでの倍率容量を持っています。このSEMには高解像度イメージングシステムが搭載されており、超音速光加速器ペアを提供するために最適化されています。CM100 SEMには様々な分析機能があり、高精度分析試験に最適です。これらの機能には、自動化された画像ベースの元素解析、結晶構造解析、および位相対照イメージングが含まれます。PHILIPS/FEI CM100は、電動X-Yステージ、自動サンプル交換、および統合された10位置サンプルホルダーを備えた自動運転用にも設計されています。イメージング機能に加えて、FEI CM100 SEMにはさまざまな高度な機能が搭載されています。これらには、低ノイズ、ディザリング検出ユニット、信号対応イオン検出器、およびさまざまなフィルタオプションを備えた高度なイメージングマシンが含まれます。PHILIPS CM100はまた、さまざまな設定やユーザー定義パラメータへの迅速なアクセスを提供する包括的なユーザーコントロールパネルを誇っています。CM100走査型電子顕微鏡は、様々な天然および加工されたサンプルで高度な分析を行うことができる高度なイメージング機器をお探しの方に理想的な選択肢です。この高度なSEMは、研究者や産業従事者が競合モデルと比較してほんの一部のコストで詳細かつ正確な画像を得ることを可能にする印象的な機能の配列を組み込んでいます。
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