中古 PHILIPS / FEI CM100 #293616767 を販売中

PHILIPS/FEI CM100は、さまざまなサンプルの高解像度画像を生成するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）で、サンプルの特徴を視覚的かつ定量的に分析することができます。SEMは電子顕微鏡の一種で、電子の集束ビームを利用してサンプルの表面を調べます。電子が試料と相互作用すると、拡大画像が生成され、画面上で観察することができます。FEI CM100は、用途やサンプルの種類に応じて適用できる幅広いイメージングおよび分析技術を備えています。例えば、SEMは後方散乱イメージング、二次電子イメージング、組成解析を行うことができます。バックスキャッターイメージングは、サンプルの表面の特徴を詳細に見るために使用されます。二次電子イメージングは、内部構造と組成に関する情報を得るために使用することができます。組成分析は、その特性を確認するために、サンプルの材料組成を調べるために使用されます。PHILIPS CM100 SEMは、サンプルタイプごとに最適な結果を得るために顕微鏡のパラメータを最適化することができるさまざまな自動システムも提供しています。これには、自動チューニングとスムーズな動きのための正確なステージコントロールが含まれます。これに加えて、SEMには正確な振動分離と外部ガス処理のオプションがあり、幅広い用途に対応できます。これに加えて、CM100 SEMはさまざまな編集および分析機能を提供しており、ユーザーは画像の特徴に注釈を付けたり、ズームしたり、測定したりすることができます。また、TIFF、 JPG、 PNGなどのファイル形式に直接エクスポートして分析することもできます。全体として、PHILIPS/FEI CM100 SEMは信頼性が高く、堅牢で適応性の高い顕微鏡であり、高解像度の画像を作成し、幅広いサンプルを包括的に分析することができます。自動化されたシステムと詳細なイメージング機能により、高品質の画像と詳細な分析を必要とするあらゆるアプリケーションに適しています。