中古 PHILIPS / FEI CM10 #9298539 を販売中

PHILIPS/FEI CM10は、試料の様々な物理的・形態的特徴を高倍率で観察するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI CM10は、耐久性と低振動プラットフォーム上に構築されているため、研究および産業用途に適しています。PHILIPS CM 10は、高倍率でサンプルの詳細な画像をキャプチャする高性能シリコンドリフト検出器（SDD）を搭載しています。最大倍率は250,000X倍で、表示解像度は3nmです。SDDにより、SEMは最大40の元素を正確に検出することができ、サンプルの化学成分を分析するための優れたツールとなります。PHILIPS CM10は、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BEI）、電子後方散乱回折（EBSD）など、さまざまな観察モードを提供しています。SEIを使用すると、試験片の表面に細かいディテールの画像をキャプチャできますが、BEIを使用すると、組成と微細構造の特徴を表示できます。EBSDモードを使用して結晶試料を分析し、その粒度方向と微細構造の特徴を観察することができます。CM 10はまた、高精度のスキャンステージを備えており、X、 Y、 Z方向のサンプルをスキャンすることができます。このスキャンステージは、最大2mm/秒の速度を持ち、サンプルホルダーや検出器などのさまざまなアクセサリと互換性があります。さらに、その場での加熱、電気監視、イオンイメージング、磁気サンプルのイメージングなど、特定の用途に特化した機能を備えています。FEI CM 10は使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を提供し、学習と操作を直感的に行うことができます。このSEMには、高度なイメージングおよび分析プログラムもあり、ユーザーは分析機能を強化できます。信号対雑音比に優れ、低倍率でも高品質なイメージングを実現します。要するに、CM10は基礎研究から産業分析まで、幅広い用途に理想的なツールです。優れた画像品質、さまざまな観察モード、および分析力を高めるためのさまざまな機能を提供します。