中古 PHILIPS / FEI CM #9255393 を販売中

PHILIPS/FEI CMは、ナノメートルスケールの材料のイメージングおよび分析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度・高感度検出機能により、材料科学や半導体分析など幅広い用途に使用できます。FEI CMは、電子銃、サンプルステージ、真空チャンバー、検出器など、いくつかのコンポーネントで構成されています。電子銃は電子ビームを放出し、試料に焦点を当てます。サンプルは、サンプルを支えるプラットフォーム、電動ステージ、サンプルホルダーからなるサンプルステージに配置されます。その後、サンプル段階は、通常は二次電子検出器または後方散乱電子検出器である検出器に接続されます。その後、電子ビームがサンプルと相互作用し、サンプルの表面特徴が検出され、検出器に投影されます。収集したデータは解析ソフトウェアに送信され、画像が生成されます。PHILIPS CMは、試料と電子銃の間の空間から空気分子やその他の汚染物質を除去するために使用される真空チャンバーも備えています。これにより、高解像度の画像が可能になり、空気分子によるサンプルへの損傷の可能性がなくなります。CMはまた、電子ビームのエネルギーを変化させる機能など、いくつかの高度な機能を提供し、さまざまな材料を分析することができます。PHILIPS/FEI CMには、要素情報を収集したり、さまざまな表面解析タスクを実行する機能もあります。全体的に、FEI CMは非常に洗練された汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、ナノメートルスケールまで材料の非常に詳細な画像を生成することができます。その幅広い機能は、材料科学者、半導体メーカー、研究者の間で人気のある選択肢となっています。