中古 PHILIPS / FEI CM Series #9225196 を販売中

PHILIPS/FEI CMスキャン電子顕微鏡シリーズは、材料を非常に高い倍率で検査するために使用される高度なイメージング装置です。この高度な画像処理システムは、ナノメートルスケールで構造、表面、および特徴の高解像度画像を生成することができます。この先進的な機器は、さまざまな研究、開発、教育環境での使用に適しています。FEI CMシリーズは、個々の粒子からバルク構造まで、幅広いサンプルタイプでの使用に適しています。この先進的な装置は、電子光学技術とスキャン技術のユニークな組み合わせを利用して、高解像度の画像を生成します。PHILIPS CMシリーズの電子光学カラムは、0.2µradの角度分解能で最大1000,000xの倍率を提供します。このユニットは、サンプルの最も詳細な画像を得るために、二次電子、後方散乱電子（SSB）、伝送電子（TEM）検出器などの範囲のイメージング検出器と組み合わせることができます。CMシリーズを用いて、腐食プロセスの検討、薄膜の評価、結晶欠陥などの構造的特徴の検討など、さまざまな研究目的でさまざまな材料の構造と組成を解析することができます。また、細胞や組織断面などの生体試料の高解像度イメージングにも適しており、生体構造の詳細な解析が可能です。PHILIPS/FEI CMシリーズは、さまざまな高度な機能を備えた強力なイメージングツールです。これらには、自動元素マッピングのための統合された分光測定機能、サンプルアライメントとイメージングのための完全なオートメーションオプション、3次元イメージングのための高度な自動ステージスキャン、およびサンプル分析をサポートするように設計されたさまざまなソフトウェアパッケージが含まれます。全体として、FEI CMシリーズは、幅広い研究プロジェクトやアプリケーションに適した高度なイメージングシステムです。この装置は分光および自動立体視機能を備えた高分解能画像を提供し、研究者はナノメートルスケールのサンプルの構造と組成を分析し、理解することができます。