中古 PHILIPS / FEI Altura 855 #9329323 を販売中

ID: 9329323
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Sample holder, 6" Piece holder load lock entry, 8" Electron source: Schottky FEG Beam current: 22 nA Ion column: Sidewinder Imaging resolution: 3 nm at 1 kV Ion beam resolution: 5-7 nm TLD UHR, SRH, and BSE Detectors for SEM CDEM Detector for ion (2) Gas chemistry FEI Navigator-KLA / TENCOR Chiller Transformer Stages: X, Y-Axis: 205 x 205 mm 45 mm ZRT Rotation: 360° -5° to 65° ZRT 5-Axis stage motor Turbo pump with XDS 10 Operating system: Windows.
PHILIPS/FEI Altura 855は、幅広い科学的用途に対応するイメージングソリューションを提供するために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、表面イメージングと分析のための高性能、超高解像度ツールです。信頼性が高く、エネルギー効率が高く、メンテナンスが容易です。このシステムは、ハイエンドの球面異常レンズ(SAL)を使用して非常に高解像度の画像を生成する最先端の電子カラムを中心に設計されています。これにより、非常に小さな構造であっても正確に画像を作成し、分析することができます。また、SEMにはショットキー電界放出電子銃が内蔵されており、高速な画像取得速度で安定した信頼性の高い動作を提供します。FEI Altura 855は多機能システムで、さまざまな種類の分析を実行できます。金属、セラミックス、複合材料、半導体など、さまざまな表面の分析に使用できます。また、粒度、構造、組成などの微細構造の詳細な分析にも使用できます。高解像度イメージング機能により、DNAやタンパク質のナノスケールイメージングなどの生物学的用途に適しています。また、試料調製においても汎用性の高い設計となっており、液体から固体まで幅広い試料を調べることができます。PHILIPS Altura 855には、サンプルハンドリングとイメージングを自動化および容易にするさまざまなアクセサリーが付属しています。これには統合された自動ステージが含まれており、さまざまなサンプルをロードしてからリモートで制御および監視することができます。また、オートフォーカス機能も備えており、広い被写界深度でも画像解像度を維持するように設計されています。Altura 855は、幅広い科学的用途に、信頼性が高く、エネルギー効率が高く、高性能なイメージングソリューションを提供します。高解像度イメージング機能、統合されたショットキーガン、およびアクセサリーの範囲を備えた855は、高品質で正確なイメージング結果を求める研究者にとって理想的なツールです。
まだレビューはありません