中古 PHILIPS / FEI Altura 830 #9329326 を販売中

PHILIPS/FEI Altura 830は、高度な冶金およびナノスケール研究用に特別に設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。このユニットは、世界初の真のデュアルビームSEMであり、材料特性の機能性と精度を向上させます。SEMには高分解能の電界放射砲（FEG）を搭載しており、画像解像度は1kVで40nm以下の加速電圧で、最適な精密特性評価が可能です。Alturaの真のデュアルビーム機能は、電子ビーム（EBSD）、ディープサーフェスイメージング（DSI）、ケミカルマッピングなど、さまざまなイメージング技術を可能にします。EBSDモードでは、ユーザーは様々な材料の結晶格子を素早く正確に画像化することができ、さまざまなフェーズの同定や微細構造の好ましい向きの決定に役立ちます。Alturaのケミカルマッピングモードは、異なる材料間の界面を評価するために表面の元素組成を分析します。複合材料、セラミックス、多層MEMSの詳細な分析に使用される機能です。Alturaは、DSIを使用して、断面イメージングを提供し、薄膜堆積と低k誘電体構造を研究します。FEI Altura 830には最新のEDS検出技術も搭載されており、1分以内に元素組成マップを提供することができます。検出器の技術はSEMと統合され、リアルタイム分析をユーザーに提供します。マイクロチャネルプレート（MCP）設計と統合デジタルオフセット補正ソフトウェアにより、ナノメートルスケールで様々な解析を行う場合でも優れた性能を発揮します。この検出器は、ローディングとノイズの影響を低減し、検出限界が低く、トレースおよびマイナー要素解析の精度が向上します。最後に、PHILIPS Altura 830は豊富な編集機能を提供し、ユーザーは画像を改善し、フォーカスとコントラストを簡単に調整し、ノイズを除去し、フレームを結合し、明るさと色合いを調整することができます。情報はモニターに表示されるので、ユーザーは自分の希望する仕様に画像を簡単に変更することができます。要約すると、Altura 830は、複雑な冶金およびナノスケールの研究のために特別に設計された走査型電子顕微鏡です。真のデュアルビーム機能、ケミカルマッピングモード、EDS検出技術などの高度な機能により、研究および分析のためのこれまでにない精度と精度をユーザーに提供します。