中古 PHILIPS / FEI 200 #293642983 を販売中

PHILIPS/FEI 200走査型電子顕微鏡は、世界をリードする顕微鏡プラットフォームです。これは、数ナノメートル以下の特徴を正確に画像化することを可能にする高分解能を備えています。高精度スキャン機能により、FEI 200,000xまでの倍率で幅広い特性評価技術を使用できます。PHILIPS 200には大きなチャンバーが装備されており、最大200x200 mmのサンプルサイズが可能です。大きな背面散乱電子検出器（BSE）は、表面のコントラスト、地形、元素組成に関する情報を収集し、二次電子検出器（SE）は高コントラスト画像をキャプチャするために使用することができます。2kV〜5kVのFEIビーム源を使用して分解能を高めることができ、従来のS/Mマイクログラフでは撮像できなかった試験片の内部微細構造のイメージングを可能にします。また、LV-SEM （Low Vacuum Scanning Electron Microscopy）などの高解像度低倍率イメージングやトモグラフィー技術にも対応しています。200は有機材料、金属、複合材料を含む幅広いサンプルの高解像度イメージングに特化しています。その汎用性により、形状や地形のイメージングと評価、表面粗さ解析、粒子サイズ、ハフニウム相互接続による原子スケール画像に最適です。顕微鏡プラットフォームの独自のサンプルステージ機能は、プロセスの使いやすさと自動化を提供します。ステージには手動ステージと電動ステージの両方を装備することができ、正確なサンプル位置制御と自動イメージングと組成解析が可能です。試料分析と自動プロセス制御を容易にするために、さまざまな自動化ソフトウェアと検索アルゴリズムが利用可能です。PHILIPS/FEI 200,000xを越えて有効な電子ビームのサイズを10倍に減らし、イメージング範囲を広げることができる高度なナノフォーカス源を利用することにより、FEI 200は非常に詳細な表面および内部構造のイメージングを可能にします。また、電子非弾性散乱による歪みを自動収差制御で補正し、イメージング結果の精度を向上させます。全体として、PHILIPS 200は、高解像度イメージングと様々なサンプルの特性評価用に設計された最先端の走査型電子顕微鏡です。ファンスタティックイメージングおよび解析機能と幅広いオートメーション機能を備えたこの機器は、材料特性評価と品質管理のための信頼性の高いプラットフォームを提供します。