中古 PHILIPS / FEI 1076301 #293660714 を販売中

PHILIPS/FEI 1076301 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高解像度の物理特性のイメージングと解析に使用される次世代のツールです。このSEMは、焦点電子ビームを使用して、有機と無機の両方の形態で多様な材料をイメージすることができます。FEI 1076301は非常に高い空間分解能を備えており、ユーザーは微細な機能を非常に正確に分析することができます。これは、差動外腔（EC）と対物レンズ（OL）を組み合わせることで、最大512kVのパワーを実現します。この深度倍率により、SEMは1ナノメートルの深さまで非常に細かい詳細を解決することができます。また、SEM画像を撮影した場合でもサンプルの広範囲をカバーする大型視野（FOV）イメージングシステムを搭載しています。これにより、汎用性の高い電動ステージとともに、サンプル全体をすばやくスキャンでき、詳細な地形分析が可能になります。PHILIPS 1076301には、エネルギー分散分光法（EDS）や電子後方散乱回折（EBSD）などの元素解析に使用できる強力な検出器も搭載されています。1076301また、高度な自動化の恩恵を受け、無人スキャンと無人分析を可能にします。この機能により、時間がかかり、面倒なサンプル準備が不要になり、イメージングプロセスが合理化されます。また、ヒューマンエラーなしで分析を実行するため、正確かつ一貫した結果を得ることができます。最後に、PHILIPS/FEI 1076301には、独自の「ミラー」機能を含む独自のソフトウェアツールが搭載されており、ユーザーが電子ビームのアライメントを制御して解像度をさらに高めることができます。さらに、付属のAutomation Suiteを使用すると、サンプルの機能に関する詳細なレポート、画像アノテーション、その他の情報を作成できます。全体的に、FEI 1076301は信頼性が高く強力な走査型電子顕微鏡であり、幅広い用途にわたるさまざまな物理特性のイメージングおよび分析に適しています。その卓越した高解像度および丸みを帯びたイメージングシステムと一連のオートメーション機能により、研究および産業用途に最適です。