中古 PHILIPS 400 #126359 を販売中

PHILIPS 400走査型電子顕微鏡（SEM）は、1。0nmを超える高分解能の低電圧二次電子画像を撮影するための高性能走査型電子顕微鏡です。これは、最大250,000xの倍率に達することができ、1nmまでのイメージングのための精度レベルを保持します。これは、元素および微細構造解析を含む多くの種類の測定に適しています。400の主要成分は、電子源、電子カラム、および画像段階です。電子源は電子ビームを生成する電子銃で構成されています。この銃は高電圧で電子を放出し、磁気レンズを使って電子柱に向けられます。電子カラムは、電子ビームを試料に集中させるように設計されており、対物レンズ、コンデンサーレンズ、スティグマなど、多くの要素で構成されています。このコラムは高エネルギーのビームを生成し、これを画像ステージに渡してサンプル表面に焦点を合わせます。イメージステージは、高電圧画像と低電圧画像の両方に対応するように設計されています。これは、サンプルの本拠地であるサンプルチャンバーと、いくつかの画像検出器で構成されています。検出器は放出された電子を検出し、それらが生成する画像は接続されたモニターに表示されます。メインコンポーネントに加えて、PHILIPS 400にはさまざまなアクセサリーも付属しています。差動ポンプ装置、イオンゲージ、真空システムなどがあります。差動ポンピングユニットは、高解像度イメージングのためのサンプルチャンバーの汚染を低減するのに役立ちます。イオンゲージは、イメージチャンバー内の電子密度を測定し、真空機械がどれだけ機能しているかを監視するために使用されます。真空ツールはサンプル室から空気を排出し、低真空圧を維持して画像解像度を向上させます。400スキャン電子顕微鏡は、それが生成する画像を処理する高度なソフトウェアを使用しています。直感的なユーザーインターフェイスと強力な解析機能により、画像解析を簡素化し、結果を向上させることができ、使いやすいように設計されています。電子倍率は調整可能で、実施されている実験の要件を満たすために簡単に変更することができます。この顕微鏡には、スキャン、背面散乱、エネルギー分散X線分光法など、さまざまなイメージングモードも含まれています。全体として、PHILIPS 400スキャン電子顕微鏡は、低電圧イメージングおよび解析アプリケーション向けの強力なソリューションです。高精度で、解像度1nmまでの画像を簡単に提供します。そのアクセサリの範囲、直感的なユーザーインターフェイス、強力な分析ソフトウェアは、ユーザーが自分のイメージング結果から最も価値を抽出することができます。