中古 PARK SYSTEMS XE-HDM #9394707 を販売中

PARK SYSTEMS XE-HDMは、パークシステムズが高分解能材料科学と計測研究を行うために設計した高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。XE-HDM SEMは、最先端のフィールドエミッションガン（FEG）電子源と革新的な電子光学設計を組み合わせ、1。2nmの高分解能を実現しています。PARK SYSTEMS XE-HDMには、二次電子（SE）、逆散乱電子（BSE）、場の放出スキャン（FESEM）検出器も装備されています。XE-HDMは、ユーザーに大きなダイナミックレンジの利点を提供し、ナノスケールからより大きなサンプルスケールまでの観測を可能にします。PARK SYSTEMS XE-HDMは、高性能のFEG電子源を利用しており、エネルギー安定性に優れた高輝度の電子ビームを生成し、高解像度の画像を生成します。XE-HDMは1。2nmの解像度を実現し、最大0。7mmの作動距離を持ちます。PARK SYSTEMS XE-HDMは、エネルギー分散X線分光法（EDS）と波長分散X線分光法（WDX）システムの2つの分析機能も提供しています。EDSおよびWDXシステムは、0。6 µmの空間分解能を持つ元素解析または組成解析が可能です。XE-HDMには、地形イメージング用の2つの二次電子検出器、低真空のBSE検出器、窓のない柱内検出器、および小角散乱（SAS）検出器が装備されています。BSE検出器は、金属サンプルおよび複合サンプルのイメージング、およびローカル化学特性のバリエーションのマッピングに最適です。PARK SYSTEMS XE-HDMにはフィールドエミッションスキャン（FESEM）検出器も装備されており、非常に高解像度の画像処理機能を提供します。FESEMは0。8nmの解像度でイメージングが可能です。XE-HDMシステムは、イメージング機能に加えて、計測研究のための強力なツールとなる多くの機能も提供しています。PARK SYSTEMS XE-HDMには、サンプルエッジを特定し、電子ビームを高精度に自動的にフォーカスできる独自の自動焦点フィーチャーファインダー（FFF）システムが搭載されています。XE-HDMは、厚さや粗さの測定、面積の測定など、さまざまな自動測定を提供します。PARK SYSTEMS XE-HDMは、最大1 nmの解像度で自動測定するためのギャップ検出およびステップ高さ測定オプションも提供します。XE-HDMは、材料科学や計測研究に適した走査型電子顕微鏡です。パークシステムズXE -HDMは、革新的な電子光学設計と高性能FEG電子ソースにより、優れた解像度と幅広い分析機能を提供します。XE-HDMの自動フォーカスファインダーとさまざまな自動測定は、計測研究のための強力なツールをユーザーに提供します。