中古 PARK SYSTEMS XE-70 #9225309 を販売中
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販売された
ID: 9225309
Atomic Force Microscope (AFM)
XY Scanner:
Single-module flexure with closed-loop control
UV LED Head has been replaced
Computer with (2) monitors
Controller
Light source
Scan range:
100 μm x 100 μm
50 μm x 50 μm
10 μm x 10 μm
Manual stage:
XY Travel range: 13 x 13 mm
Z Travel range: 29.5 mm
Focus travel range: 70 mm
Z Scanner range:
Guided high-force Z scanner
Scan range: 12 µm, 15 µm
Sample mount:
Sample size: Up to 100 mm
Thickness: Up to 20 mm
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10x objective lens
Field-of-view: 480 x 360 µm
CCD: Mpixel
Electronics:
DSP: 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size: 4096 x 4096 Pixels
Signal inputs: 20 Channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs: 21 Channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal:
End-of-image
End-of-line
End-of-pixel TTL signals
Includes:
ACOUSTIC Enclosure
MINUS K TECHNOLOGIES Platform
Power: 120 W
CE Marked.
PARK SYSTEMS XE-70は、ナノテクノロジーや材料科学など多様な分野の研究者のニーズに応えるために設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。XE-70は独自のダイナミックイメージング機能を備えており、高解像度イメージング、表面特性評価、立体解析に最適です。PARK SYSTEMS XE-70は、12メガピクセルの大型高感度デジタルカメラと、1ナノメートルまでの解像度で画像をキャプチャするブロードバンドエネルギー検出器を備えています。高電圧の電子源は0。5から100keVまでビームを生成することができ、電子後方散乱回折、二次電子イメージング、X線マイクロアナリシスなど、幅広い分析技術を提供しています。XE-70は、さまざまなサイズや形状の試料に対応するための幅広いサンプルステージも提供しています。PARK SYSTEMS XE-70は、洗練された研究を行うための理想的な選択肢となる多くの強化剤を誇っています。環境制御システムは、動作中も安定した真空レベルを維持し、環境振動による干渉を最小限に抑え、高解像度イメージングに最適です。また、XE-70はユーザーフレンドリーなデジタルインターフェイスを備えているため、顕微鏡の操作や設定の操作が簡単です。さらに、統合された画像処理ソフトウェアにより、データの処理や高品質な画像の作成が容易になります。全体的に、PARK SYSTEMS XE-70は、比類のない性能と柔軟性を提供する強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。高解像度の画像をキャプチャすることができ、幅広い分析機能を備えており、多様な分野の研究者に最適です。
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