中古 PARK SYSTEMS XE-300 #9221612 を販売中

PARK SYSTEMS XE-300は最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）で、ナノスケール構造の高解像度画像を0。75nmまで解像度でキャプチャできます。XE-300はEverhardt-Thornley Variable Pressure System （VPS）を使用して、高真空モードと低真空モードの両方で動作するための最適化された試料チャンバー制御を提供します。PARK SYSTEMS XE-300は、インレンズガンとタングステンフィラメント電子銃で構成される2段ガンを備えた最先端のコラム設計を採用しています。このデュアルガンにより、XE-300は高倍率でも超高解像度の画像をキャプチャできます。さらに、インレンズガンにより、最大3200倍のラインレートの高速撮影が可能です。パークシステムズXE-300、最適化されたCs補正システムを使用して球面収差を低減し、画像コントラストを最大化します。XE-300はまた、ナノ材料を特徴付けるための分析機能の広い範囲を提供しています。Energy Dispersive X-ray Spectrometer （EDS；エネルギー分散X線分光計）を使用すると、元素解析を行い、物質組成を特定することができます。さらに、パークシステムズXE-300にはX線オーガー分光計（XAES）と波長分散X線分光計（WDS）が搭載されており、材料の化学組成を測定することができます。オプションのEBSD （Electron Backscatter Diffraction）ユニットを使用すると、結晶構造の測定と分析を行うこともできます。XE-300は、ユーザーがイメージングおよび分析プロセスを正確に制御および自動化できるさまざまな機能を備えています。これには、クイックセットアップのための直感的なユーザーインターフェイス、サンプルを取り付けるための6入力サンプルホルダー、および正確なスキャンのための高度なステージモーション制御が含まれます。PC制御の検出器光学によって、ユーザーはSEMイメージの検出器の存在を制御でき、より大きいイメージの明瞭さおよび対照を提供します。全体として、PARK SYSTEMS XE-300は、ナノスケール構造の超高解像度の画像をキャプチャするのに最適な高度な走査型電子顕微鏡です。さまざまな分析機能と高度な自動化機能を備えたXE-300は、ナノマテリアルの研究に比類のない機能を提供します。