中古 PARK SYSTEMS XE-100 #293823195 を販売中

PARK SYSTEMS XE-100は、ナノスケールレベルの幅広い材料の高解像度イメージングと分析を目的とした最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。原子力顕微鏡（AFM）およびSEMソリューションのリーディングプロバイダーであるPARK SYSTEMSによって開発されたXE-100は、高度な技術を組み込み、イメージング、分析、および特性評価タスクで優れた性能を提供します。PARK SYSTEMS XE-100の中心には、超高分解能のイメージングサンプル用の集光電子ビームを生成する電界放出電子源があります。SEMは、一連の電磁レンズと検出器を利用して電子ビームを操作して捕捉することで、比類のないディテールでサンプルの表面構造や特性を調べることができます。XE-100の特徴の1つは、高解像度のイメージング機能であり、研究者や科学者がサンプル表面をサブナノメートル分解能で可視化することができます。このレベルのディテールは、ナノ構造、ナノ粒子、薄膜など、精密なイメージングが必要な材料を総合的に解析するために不可欠です。PARK SYSTEMS XE-100は、イメージングに加えて、エネルギー分散型X線分光法（EDS）や電子後方散乱回折（EBSD）などの高度な分析機能を提供します。EDSは、電子ビームがサンプルと相互作用する際に放出される特徴的なX線を検出することにより、サンプルの元素分析を可能にし、材料の組成に関する貴重な情報を提供します。同様に、EBSDは、ユーザーが材料内の結晶構造と粒子構造を調べることができる強力な技術であり、サンプル内の粒界と欠陥の正確な特性評価を可能にします。これらの分析技術と高解像度イメージングを組み合わせることで、材料科学研究や半導体分析など、詳細なサンプル特性評価を必要とする分野でXE-100に汎用性の高いツールとなります。PARK SYSTEMS XE-100は、操作とデータ収集を簡素化する直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーはすぐにイメージングと分析実験をセットアップすることができます。ソフトウェアインターフェイスにより、加速電圧、ビーム電流、スキャン速度などのイメージングパラメータをリアルタイムで制御でき、多様なサンプルタイプや解析要件に最適化されたパフォーマンスが保証されます。さらに、XE-100は正確な位置決め機能を備えた電動ステージを備えているため、広範囲のサンプルをスキャンしたり、高精度な測定を簡単に行うことができます。ステージはソフトウェアインターフェイスを介して制御でき、効率的なデータ収集および分析ワークフローのための自動マッピングおよびイメージング機能を提供します。PARK SYSTEMS XE-100はまた、柔軟性と拡張性のために設計されており、追加のアクセサリとモジュールがさらに機能を強化するためのオプションがあります。ユーザーは、追加の検出器、ステージ、分析ツールを統合して、特定の研究ニーズに合わせてSEMをカスタマイズすることができ、材料科学、ライフサイエンス、ナノテクノロジーの幅広い用途に対応する汎用性の高いプラットフォームとなります。全体として、XE-100走査型電子顕微鏡は、高度な技術、高解像度イメージング、分析機能をユーザーフレンドリーで汎用性の高いパッケージに組み合わせることができます。PARK SYSTEMS XE-100は、ナノスケールレベルでサンプルを可視化および分析することができるため、原子レベルおよび分子レベルでの材料の特性を探索し理解しようとする研究者、科学者、および業界の専門家にとって貴重なツールです。