中古 OKOS VUE 400 #9266141 を販売中
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ID: 9266141
ヴィンテージ: 2011
Scanning Acoustic Microscope (SAM)
Includes:
(5) Transducers
15 MHz
50 MHz
75 MHz
125 MHz
200 MHz
Compact Disk (CD)
Manuals and spare parts
2011 vintage.
OKOS VUE 400は、包括的で高解像度のイメージング機能を提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。600kVまでの倍率範囲の超高解像度検出器と、画像解析とシミュレーションのための高性能ソフトウェアスイートが含まれています。VUE 400のイメージング機能により、材料特性評価や表面検査から3Dイメージング、ナノ加工まで、さまざまな用途に対応できます。OKOS VUE 400には、インコラムフィールドエミッションガンと高解像度の単軸偏向スキャナが搭載されています。この組み合わせにより、優れたイメージング機能と解像度を提供するため、VUE 400は日常のイメージングに理想的であり、3D再構築や材料分析などの高解像度タスクに最適です。フィールド放出銃は、ポリマーやセラミックフィルムなどの薄い物質標本を貫通することができる集中電子ビームを生成します。コラムのセラミック真空断熱材と密閉シールは、優れた画像安定性と信頼性を提供します。OKOS VUE 400は、12。1インチの大型液晶モニターを搭載し、操作と表示を容易にするとともに、効率的な自動ステージ立面化機構により、サンプルの整合性を維持しながら効率的なイメージングを可能にします。ユーザーフレンドリーなソフトウェアスイートは、さまざまな画像処理アプリケーションと、自動解析とレポート作成のための測定ライブラリを提供します。さらに、原子力顕微鏡(AFM)モジュールを使用することで、サンプルのナノスケールの特徴を調べることができます。VUE 400は、in situとex situの両方のサンプル環境に対応するように設計されています。一方から他方へシフトするこの能力は、柔軟な実験の可能性を提供します。例えば、有機系の微細構造の現場観測や、ナノ構造の元situ観測などに用いられる。最後に、OKOS VUE 400は、さまざまな顕微鏡アクセサリとの互換性を可能にするオープンアーキテクチャで構築されています。その高性能なソフトウェアとハードウェアは、イメージングから構造解析、3D再構築など、研究の可能性の世界を開きます。
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