中古 LEO / ZEISS Supra 40VP #293636806 を販売中

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ID: 293636806
Scanning Electron Microscope (SEM) Schottky Field Emission EDAX Everhart-Thornley (Hi-Vacuum) Secondary electron detector OXFORD Electron diffraction Resolution: 1 nm at 20 keV Backscatter detector: 4-Quadrant Variable Pressure Secondary Electron Detector Oil-free rotary pump Turbo (2) Ion getters OXFORD X-Max 80 mm2 SDD EDS EBSD Oxford/Nordlys HKL 9-Pin Wafer section Multipurpose variable clamp Thin section 1" Metallurgical holder HASKRIS Air-cooled Gas requirements: Nitrogen, Compressed air Operating system: Windows 7 Power requirements: 220V.
LEO/ZEISS Supra 40VPは、さまざまなサンプルの超高解像度イメージング用に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。最大14mmの作動距離を持つ可変圧力カラムと120 cm²のEverfab Sourceを備えています。そのPhilips X 'Pert Proプラットフォームは、最大200,000xの倍率でオブジェクトの微細構造をプローブすることができる強力で信頼性の高いプラットフォームです。LEO Supra 40VPには、高倍率での優れた解像度と画像の鮮明性に貢献するいくつかのコンポーネントが装備されています。その最も重要なコンポーネントの1つは、ガンマ補正電子ビームとマルチセグメントCCD検出器を備えたEverfab Sourceです。この高度な光学系の組み合わせにより、0。6nm以上のサンプル分解能が得られます。機器のもう1つの重要なコンポーネントはEDAX Genesis分光計で、サンプルの組成を損傷することなく検出および分析するために使用できます。その優れたイメージング機能に加えて、Supra 40VPは、その使用を容易にするように設計されたさまざまな機能も備えています。これには、特許取得済みのノイズ抑制技術、直感的なタッチスクリーンインターフェース、自動化されたアライメント、キャリブレーション、参照プロセスが含まれます。また、電子後方散乱回折(EBSD)やエネルギー分散分光(EDS)などの強力なイメージングおよび解析ツールも提供しています。EBSDはサンプル中の結晶相の同定と解析を可能にし、EDSは周期表のすべての元素の定性的かつ定量的な組成解析を提供する。ZEISS Supra 40VPには、自動真空蒸発器と自動スパッタコーターで構成される自動サンプル調製ユニットも装備されています。イメージングと分析のためのサンプルを均一に準備することができます。全体として、Supra 40VPは、高解像度イメージングと様々なサンプルの分析用に特別に設計された汎用性と強力な走査型電子顕微鏡です。高品質のコンポーネントと自動化されたプロセスにより、ユーザーはこれまでにない詳細なサンプルを迅速かつ正確に分析することができます。
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