中古 LEO / ZEISS 435VP #9255854 を販売中

LEO/ZEISS 435VP走査型電子顕微鏡は、優れたイメージング機能と分析性能を提供するように設計された高性能装置です。特にナノスケール構造分解能のイメージングと解析に適しています。この顕微鏡は、電子の明るさの向上、透過率の向上、および有意なカラム寿命を提供するように設計された電界放出電子源を利用しています。その結果、この顕微鏡は、高いプローブ電流レベルで最大10nmの印象的な分解能を提供します。試料をサンプルホルダーインサートに配置することができ、試料操作が可能です。解析中の向きは自動6軸電動ステージによって提供され、高解像度のピエゾ運動で複雑な動きを達成することができます。ステージは、垂直軸、horzontal軸、または通常の方向で定義された第3軸について、試験片を線形または回転の両方で移動することができます。システムのユーザーは、画像をキャプチャするために、さまざまな検出器を利用することができます。送信された電子検出器は、背面散乱電子と二次電子の両方で画像をキャプチャし、サンプルの表面と体積の両方からコントラストを得ることができます。後方散乱電子も二次電子検出器で観測することができます。これらの機能は、明るいまたは暗いフィールドイメージングまたは両方の組み合わせのためのSTEM検出器によって補完されます。この顕微鏡には、自動化されたデジタルイメージングシステムと自動アライメント機能がさらに装備されています。これにより、付属の統合カメラとモンタージュフィルムループの作成によるイメージングドキュメントが容易になります。また、最大500Hzまでの調整可能なスキャン速度を備えているため、光学顕微鏡構造解像度をシミュレートすることができます。分析のために、顕微鏡は元素分析のためにエネルギー分散X線分光計（EDS）を利用し、ユーザーがサンプル上のさまざまな特徴の化学組成または厚さを識別することができます。高コントラストイメージングとLEO 435VP走査型電子顕微鏡の高度な機能の組み合わせは、ナノスケールの研究と分析のための貴重なツールとなります。