中古 LEO / ZEISS 435VP #293771091 を販売中
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ID: 293771091
Scanning Electron Microscope (SEM)
No EDS
Back scatter
Rotary vacuum pump
Stabiliser
Cables
Desk
Column
Keyboard
Mouse
PC
Manual included
Power supply.
LEO/ZEISS 435VPは、カールレオ株式会社が製造する高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。この高度なイメージングシステムは、生物標本から材料科学標本まで、幅広いサンプルの高解像度イメージングおよび分析に優れた能力を研究者および科学者に提供するように設計されています。LEO 435VPの中心には、画像処理と分析のための非常に集中した電子ビームを生成する電界放出電子銃があります。この電子ビームはサンプルの表面をスキャンし、電子とサンプルとの相互作用によって検出され、印象的な明瞭さとディテールで高解像度の画像を作成する信号が生成されます。ZEISS 435VPの主な特徴の1つは、非常に高い倍率を達成する能力であり、研究者はナノスケールのレベルでサンプルを探索することができます。最大倍率は1,000,000倍で、驚異的な精度でサンプルの細部を調べることができます。高倍率機能に加えて、435VPはさまざまな研究用途に適したさまざまなイメージングモードと技術を提供しています。二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、元素分析のためのエネルギー分散X線分光法(EDS)などがある。また、高度な検出器や信号処理技術を搭載し、高品質な画像処理と分析結果を実現しています。LEO/ZEISS 435VPは、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと直感的なソフトウェアを備えており、研究者が顕微鏡を簡単に制御し、画像を取得し、高度な分析を実行することができます。このシステムは、画像ステッチ、自動測定、3D再構築などのさまざまなイメージングおよび分析ツールを提供し、さまざまな研究アプリケーションをサポートします。さらに、LEO 435VPには可変圧力機能が搭載されており、研究者は特別なサンプル調製技術を必要とせずに非導電性または水和サンプルを撮影することができます。この機能により、顕微鏡の汎用性が拡張され、より広範囲のサンプルを容易に撮影することができます。ZEISS 435VPは汎用性と柔軟性を考慮して設計されており、オプションのアクセサリやアップグレードを幅広く提供しています。これらには、温度と湿度が制御された条件下でのサンプルのイメージング用の環境チャンバーや、動的研究のための現場での実験機能が含まれます。全体として、435VP走査型電子顕微鏡は、幅広い研究分野における高解像度イメージングおよび解析のための強力で汎用性の高いツールです。高度な機能、ユーザーフレンドリーなインターフェース、優れたイメージング性能を備えたこのSEMは、比類のない明瞭さとディテールでミクロとナノスケールの世界を探索しようとする研究者にとって非常に貴重な資産です。
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