中古 LEO / ZEISS 435VP #293651569 を販売中

LEO / ZEISS 435VP
製造業者
LEO / ZEISS
モデル
435VP
ID: 293651569
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 435VPは、高度で分析的な性能を得るために設計された強力な走査型電子顕微鏡(SEM)です。この最先端の機器は、高分解能、電界放出サブナノメートル電子源、逆散乱電子検出器、二次電子検出器、高倍率デュアルビーム機器など、幅広い機能を備えています。半導体ウェーハ、薄膜、生体試料などの試料の研究に最適です。LEO 435VPは、非常に詳細な画像を優れたコントラストで提供することができ、ユーザーは試料のマイクロおよびナノスケールの特徴を識別して視覚化することができます。最先端のモジュラー設計を採用しており、交換可能なアクセサリーと検出器が並んでおり、ユーザーは特定のニーズに応じて機器をカスタマイズできます。優れたサンプル保存のために、ZEISS 435VPはまた、低真空チャンバーを備えており、強い気流を避け、酸化を防ぎながら、低く安定した圧力を維持するのに役立ちます。これは、高度なイメージング機能と組み合わせて、435VPは分析研究のための理想的な機器になります。画像処理性能以外にも、LEO/ZEISS 435VPには、操作と分析を簡単に行うための自動ソフトウェアツールが搭載されています。半自動画像最適化システム(SAIOS)、リアルタイム画像取得ユニット(RTAIS)、デュアルビームマシン自動操縦装置(DBSA)などがあります。SAIOSを使用すると、明るさやコントラストなど複数のパラメータを素早く調整して画質を最大化できます。RTAISは、SEMのパラメータをリアルタイムでフィードバックし、ユーザーが自分のイメージングツールを瞬時に調整できるようにします。DBSAはデュアルビームイメージングパラメータを最適化し、全体的なパフォーマンスを最大限に引き出します。全体として、LEO 435VPは高度で機能満載のスキャン電子顕微鏡で、高品質の画像処理性能とカスタマイズ可能な検出オプションを必要とする研究アプリケーションに最適です。モジュール設計、自動化されたソフトウェアツール、特殊なサンプル保存機能により、強力で信頼性の高い科学機器となっています。
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