中古 LEO / ZEISS 430i #9407378 を販売中

LEO/ZEISS 430iスキャン電子顕微鏡（SEM）は、高性能、デュアルビームFIB/SEMイメージング装置です。LEO 430i SEMは、業界をリードする解像度とナノスケール構造の両方を処理する機能を組み合わせて、幅広い材料分析アプリケーションを容易にします。1ナノメートルの解像度までの高精細なイメージング機能を備えており、高度な高性能カソード/アノードデュアルビームシステムにより、非常に小さなオブジェクトの高度な特性評価と操作のためのマルチモード動作を可能にします。SEMカラムは、高解像度のイメージングを容易にするように設計されていますが、さまざまなサンプルサイズや種類での作業に必要な柔軟性を提供します。ZEISS 430iには、二次電子（SE）検出器、背面散乱電子（BSE）検出器、および素早い画像撮影を可能にする電界放射銃を備えた化学分析器が装備されています。ガスインジェクションユニット（GIS）が付属しており、必要に応じてイメージングや操作時の機能ガスの導入が可能です。430iのマルチモード動作は、Variable Pressure/Low Vacuum （VP/LV）構成で有効になります。これにより、高解像度のイメージングを可能にするために、環境を操作することができる難画像材料の高度な特性評価が可能になります。LVモードは、より高い真空中でより大きな電子線量を必要とする、より厚い断面積の粒子、遅い排水膜、またはフィルムをイメージングするための低エネルギー環境を提供します。LEO/ZEISS 430iは、360度回転ステージと6軸サンプルステージを備えており、面内および面外操作が可能であり、特定の領域の容易なイメージングと操作が可能です。さらに、オートフォーカス、オートスティグメーション、自動露出などのさまざまな制御モードが付属しているため、ユーザーは画像環境を完全に制御できます。LEO 430iは、さまざまな自動サンプルハンドリングシステムと統合することができ、柔軟性を高めます。要約すると、LEO 430iScanning Electron Microscopeは強力なデュアルビームFIB/SEMイメージングマシンで、ナノスケール天体の高解像度イメージングと操作を可能にします。高度なコラムとGISツールにより、さまざまな材料のイメージング環境を操作できます。制御モードと自動サンプル処理システムは、分析アプリケーションに必要な柔軟性をユーザーに提供します。