中古 LEO / ZEISS 1560 #9272757 を販売中

LEO/ZEISS 1560 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ユーザーが最大250,000xの高倍率のサンプルを観察し、分析することができる汎用性と信頼性の高いツールです。高性能で低電圧のSEMで、被写界深度と解像度に優れたオンアクシスシステムを備えており、多くの研究者や技術者に最適なツールとなっています。LEO 1560 SEMはショットキーフィールドエミッションガンを備えており、電子光学系に最新のソリューションを提供し、信号対雑音比を向上させています。高解像度イメージングおよび解析用に0。2〜10 µm2の可変スポットサイズを備えています。このSEMはまた、エバーハルト-ソーンリーの複数のセグメント化された二次電子検出器を提供しており、正確な元素分析を行うことができます。さらに、ZEISS 1560にはスパッタコーティング用のチャンバーが内蔵されており、2mm背面散乱検出器を装着することで、さまざまなイメージングモードや検出モードを実行することができます。1560 SEMは、様々な技術を用いて試験片の表面や特徴を探索することができます。これには、二次電子イメージング、位相対照イメージング、後方散乱電子イメージング、手動および自動傾斜イメージング、スティグメーションおよび暗視野イメージング、およびエネルギー分散X線マッピングが含まれます。さらに、このSEMの精度により、地形、ラインプロファイル、粒子解析、および自動表面測定による3Dイメージングが可能になります。LEO/ZEISS 1560 SEMはまた、実験設計の柔軟性を高めます。デジタルジョイスティックを備えており、ライブSEM画像を観察しながら手動で標本ナビゲーションを行うことができます。さらに、オプションのスキャンステージを追加することができ、複数のモードでの自動スキャンと録音が可能です。また、様々な傾斜角度が可能で、断面調査に最適です。最後に、LEO 1560 SEMは、いくつかの操作機能と機能を備えたユーザーフレンドリーな制御インターフェイスを提供します。オートフォーカスプログラム、多数のパラメータを備えたプリセットライブラリ、角度測定システム、自動回復システムが装備されています。これにより、動作中も安全で信頼性の高いSEMを維持できます。これらのすべての機能により、ZEISS 1560 SEMは、さまざまな研究および産業ニーズのために、詳細で正確な画像とデータを取得するための貴重なツールとなります。