中古 LEO / ZEISS 1560 #9067762 を販売中

LEO/ZEISS 1560スキャン電子顕微鏡（SEM）は、材料表面およびサブサーフェス構造を詳細に分析するための高度な顕微鏡装置です。完全に統合されたターンキーシステムは、高品質の二次電子（SE）イメージング、元素マッピングと解析のためのエネルギー分散X線分光法（EDS）、自動焦点イオンビーム（FIB）機能などの最先端の機能を提供します。LEO 1560は、SE検出器、マルチオーダーEDXS検出器、ESIトモグラフィ検出器を備えています。SE検出器は、さまざまな解像度と大規模なイメージングスケールを提供する二次電子検出器です。EDXS検出器を使用すると、分布と相対的な豊富さを表示することで、さまざまな材料の元素分析を実行できます。ESI Tomography検出器は、サンプルの断層構造を3次元で再構成することで、サンプル構造の理解を深めることができます。ZEISS 1560は、自動化されたイオンビームカラムを備えており、ユーザーは断面サンプルとエッチングを可能にします。このカラムには、最も重要なサンプルでも精密エッチングと切開を可能にする振動インパクトワイヤが含まれています。イオン銃はまた、複数の材料を容易に画像化できるようにすることで、高解像度のイメージングを提供します。1560には、高速な画像セグメンテーションを含む結果を分析および整理するための強力なソフトウェアツールのスイートを提供するデジタルイメージプラットフォームが含まれています。このパッケージには、高度なアプリケーション分析のための粒子サイズ解析および粒子平均化ツールも含まれています。LEO/ZEISS 1560 SEMは、最適なイメージング性能を得るために、さまざまなオプションのサンプル準備アクセサリを備えた完全密閉型の真空ユニットを使用しています。高性能イルミネーションマシンは、高輝度、広視野、優れた画像ディテールを提供し、高度なサンプル位置決めステージは、高精度のサンプル調査のための動きを提供します。最後に、LEO 1560 SEMは、機能性を高めるために簡単に追加できるさまざまなイメージングおよび分析アクセサリと互換性があります。ZEISS 1560 SEMは、高度な機能と強力な機能を備えた堅牢で信頼性の高いツールです。自動化とモビリティの広範な範囲を提供し、ユーザーは迅速かつ正確にデータと結果を収集することができます。この高性能スキャン電子顕微鏡は、世界中の研究所にとって非常に貴重な研究ツールです。