中古 LEO / ZEISS 1550 #293636318 を販売中

LEO/ZEISS 1550 Scanning Electron Microscope （SEM）は、イメージングと分析に使用される高度な技術を備えた汎用性の高い機器です。LEO 1550 SEMの電子柱にはショットキー電子銃、フィールドエミッションガン（FEG）、タングステン複合先端ビューが装備されています。また、10-8 Paの動作圧力で電子ビームを超高真空下に保つための高真空装置も備えており、最高の信号歩留まりと最適な画像解像度を保証します。ZEISS 1550 SEMの光学系には、高解像度走査型電子顕微鏡（S/TEM）、二次および後方散乱型電子検出器（BSD）、荷電粒子検出器、X線検出器が含まれています。S/TEMモードは、広い被写界深度を提供し、より高い倍率でのイメージング材料の能力を提供します。また、イメージングに加えて、エネルギー分散X線分光法（EDX）や波長分散X線分光法（WDX）によるサンプル要素の解析も可能で、定性的かつ定量的な結果を得ることができます。1550 SEMにより、ユーザーはさまざまなイメージングおよび分析タスクを実行できます。この機械は、高倍率、サブミクロンの特徴、さらにはナノスケール分析でも表面地形を調べるために使用できます。また、構造とインタフェースの3次元解析、ナノスケール材料への3Dデジタルトモグラフィー手法、化学組成と画像コントラストの同時イメージングを提供し、サンプル内のさまざまな要素を容易に識別し、分布を正確に分析することができます。LEO/ZEISS 1550 SEMは、大型ワーキングチャンバー温度、調整可能なテーブルハイトイメージング、大型サンプルの自動イメージング、電動およびプログラム可能なトラバース、および多数の同一ピースの自動イメージング用の大型サンプルローディング機能など、高度なハードウェアサポートオプションも提供します。LEO 1550 SEMには、ワークフローの自動化機能とソフトウェアサポートオプションが含まれており、ユーザーは効率的で直感的なユーザーインターフェイスで大量のデータにアクセスして管理することができます。SEMは、最適なイメージング性能と精度を確保するために、全自動フィーチャー認識（AFR）ツール、イメージング効果検出アセット、および応力解析モデルを備えています。全体として、ZEISS 1550スキャン電子顕微鏡は、幅広い用途に適した包括的なイメージングおよび分析機能を提供します。これにより、研究開発、品質管理、故障解析に最適な機器となります。