中古 LEO / ZEISS 1530 #293764386 を販売中

LEO/ZEISS 1530スキャン電子顕微鏡（SEM）は、多種多様なサンプルのイメージングおよび解析に使用される高精度の装置です。電子ビームを利用して試料をスキャンし、0。8nmの解像度で画像を形成します。これにより、SEMは非常に強力で、最小の粒子でも観察することができます。スキャン電子顕微鏡は、電子ビームとスキャンされたサンプルを集中させるレンズのシステムを持つコラムを持っています。このカラムには、電子ビームを変調するための高電圧を生成する電子源と、電子がサンプルに衝突したときに生成される二次電子を捕捉する検出器が含まれています。この機能により、サンプル地形の正確な推定が容易になります。サンプルは、高真空と低真空の両方で観察することができます。これにより、偶発的なドリフトの影響を回避または最小限に抑えながら、さまざまな環境でのイメージングが可能になります。試料からX線の特性を測定するために、付属のX線検出器を使用します。SEMは、サンプルのイメージングと分析をサポートするいくつかの機能を提供します。イメージングパラメータを調整し、画像解像度やコントラストを最適化するために使用できるさまざまなレンズ、フィルター、および検出器が含まれています。さらに、特定の領域に焦点を当てたり、全体的なサンプルを分析するために、さまざまなパラメータの調整を容易にするために、調整可能なオートメーションシステムが利用可能です。X線分光法、波長分散分光法、電子後方散乱回折など、幅広い測定ツールが用意されています。LEO 1530 SEMは、様々な種類のサンプルを比類のない精度で観察、分析、比較しようとする研究者にとって理想的なツールです。多数の特徴と自動化されたシステムにより、この走査型電子顕微鏡はあらゆる研究者や研究室にとって汎用性の高いツールとなります。