中古 LEO / ZEISS 1530 #293631668 を販売中

LEO/ZEISS 1530は、完全に統合された多機能場発光走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。これは、研究分野と産業分野の両方で粒子表面や他の標本の高解像度イメージングを提供するように設計されています。このFE-SEMには、電子後方散乱回折、エネルギー分散X線分光法、走査伝送電子顕微鏡、電子トモグラフィー、低電圧顕微鏡などの最新技術が搭載されており、幅広い用途に適しています。LEO 1530は、高解像度イメージングと高度な分析機能の優れた組み合わせを提供します。その高精度なナノスケール性能により、粒子のサイズは数ナノメートルから数百マイクロメートルに及ぶ、鮮明で高解像度の画像を提供することができます。自動乾燥した液体窒素冷却電子源は、安定した長期的な高分解能イメージングを提供します。一方、自動二次および後方散乱電子検出器（BSED）は、電子回折パターン、粒界、およびその他のサンプル機能の容易な特性評価を可能にします。FE-SEMは、オートフォーカス機能やサンプルの自動処理システムなど、高度な自動化機能も備えており、サンプルの迅速かつ正確な位置決めが可能です。さらに、さまざまなサイト固有のプローブにより、ユーザーはナノスケールでデータを迅速に取得できます。ZEISS 1530は、エネルギー分散型X線分光法（EDX）、電子エネルギー損失分光法（EELS）、 X線光電子分光法（XPS）など、さまざまな分析機能を提供します。EDXとEELSをSTEMイメージングと組み合わせることで、サンプルの元素組成、結合エネルギー、電子構造、結合長を解析することができます。XPSイメージングシステムでは、サンプルの組成、酸化状態、および化学環境を調べることができます。1530はまた、最適な分析のためにイメージングパラメータを調整し、自動測定を実行し、さまざまなタイプの顕微鏡画像を生成する機能を含む高度なソフトウェアパッケージを備えています。さらに、このソフトウェアパッケージは3Dイメージング機能を提供し、ユーザーはさまざまな角度からサンプル機能を分析することができます。これらの機能とLEO/ZEISS 1530の優れた性能と高解像度イメージング機能を組み合わせることで、幅広いナノスケール用途に最適なツールとなります。