中古 LEO / ZEISS 1530 #293624721 を販売中

LEO/ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope （SEM）は、科学者や研究機関が材料の微細構造を観察および分析するために使用する強力なイメージング装置です。サンプル表面の寸法が0以下の高解像度画像を生成します。LEO 1530 SEMは、ナノメートル（nm）未満の特徴を識別するために使用できる卓上装置です。Schottky Field Emission Source （FE-SEM）を組み込んでおり、優れた画像処理性能と解像度を実現します。FE-SEMは、汚染物質やその他の外的要因による機能不全を軽減し、全体的な画像品質を向上させるように設計されています。ZEISS 1530走査型電子顕微鏡は10xから400,000xまで拡大範囲があります。これには、最大1,600万画素の解像度でデジタル静止画を撮影できるEdmund Type 563カメラが含まれています。この機能により、サンプルの部品や表面全体の画像を詳細に分析することができます。画像は、デジタルファイルに直接保存して後で表示するか、さらに処理することができます。1530 SEMの他の機能には、最大4枚の画像を同時に処理できるデジタルイメージプロセッサがあります。また、電子後方散乱回折（EBSD）とオートフォーカス、高角環状暗場検出器（HAADF）の両方が含まれています。これらの機能はどちらも、サンプルの画像の解像度とコントラストを向上させます。SEMには、さまざまな状況での研究に適した真空および環境制御オプションも含まれています。これには、湿度チャンバー、加熱範囲、および大気の圧力と組成の制御が含まれます。これらの機能を組み合わせることで、サンプルの周囲の環境を正確に制御し、異なるレベルの応力やひずみの下で観察することができます。全体として、LEO/ZEISS 1530スキャン電子顕微鏡は非常に強力なイメージングツールであり、あらゆる研究機関にとって貴重な資産です。多彩な機能により、様々なサンプルに微細な特徴を詳細に画像・解析することができます。