中古 LEO / ZEISS 1525 #9397456 を販売中

製造業者
LEO / ZEISS
モデル
1525
ID: 9397456
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
LEO/ZEISS 1525は、非常に高い精度と解像度で設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。このモデルは、世界中のあらゆるSEMの最高解像度を提供し、多くのサンプルタイプの比類のないイメージングと分析を可能にします。LEO 1525は、シングルビームとスキャンビームの両方の検出器を使用して、幅広い分析を行います。この装置の二次電子検出器は、形態学的、テクスチュア的、元素的、および微量の汚染分析に適した高コントラストのモノクロ画像を生成しますが、システムの後方散乱電子検出器は、標本の地形や表面の特徴を測定するための汎用性を提供します。また、高解像度電子マイクログラフモードを搭載し、幅広いサンプルから高解像度画像を生成することが可能です。ZEISS 1525は、X-Y傾斜機能、調節可能なチャンバー、可変温度または固定温度での画像撮影機能など、多くの高度な機能を備えています。さらに、その調節可能なチャンバーは湿度制御を提供し、重要なサンプルの調製と分析を可能にします。1525は、単一のスキャンによるマルチエレメンタルマッピング画像、および10ナノメートルの解像度を持つ定量的なX線マイクロアナリシス(EDX/EDS)画像を生成することができます。これらにより、詳細材料の特性評価と微量元素イメージングが可能になります。さらに、EBSD(電子後方散乱回折)を使用して結晶構造、粒度、純度を決定することができます。スタンドアロンコンフィギュレーションでは、LEO/ZEISS 1525を真空下での動作や、さまざまなイメージングおよび解析モードに使用できます。また、このユニットの汎用性は拡張性によってさらに向上し、ユーザーはさまざまなイメージングおよび分析アプリケーションで使用できるように構成することができます。高解像度と高度な機能を備えたLEO 1525は、電子顕微鏡のスキャン用途に最適です。この機械の精度、汎用性、拡張性により、膨大な種類のサンプルタイプの高解像度イメージングと解析が可能になります。
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