中古 LEO / ZEISS 1455VP #293777704 を販売中

ID: 293777704
Scanning Electron Microscope (SEM) Camera Hard Disk Drive (HDD) PC.
LEO/ZEISS 1455VPは、表面形態および粒子分析のルーチンおよび研究イメージング用に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。ET (everhart-thornley)検出器を搭載しており、非導電面の高分解能イメージングを可能にし、高速二次電子イメージング用のチャネルトロン電子検出器を備えています。このSEMには、絶縁材料をイメージングするためのインレンズ低真空装置と、被写界深度を高めるために最大30kVの高電圧源も備えています。LEO 1455VPは、電界放射走査電子顕微鏡(FE-SEM)を用いて、他のSEMシステムよりも単位面積あたりの電流を増加させ、優れた画像解像度を得ることができます。FE-SEMシステムは、サーミオン銃よりも高いエネルギーを持つ電子を生成するためにガンフィラメントを使用し、最高の達成可能な解像度のために、より小さく、より集中したプローブを提供することができます。この顕微鏡には超高解像度Everhart-Thornley (ET)検出器が搭載されており、サンプル表面の最大解像度と正確な粒子サイズを検出することができます。ZEISS 1455VPには、正確なサンプルスキャン位置決めとステージコントロールを提供する自動ビジュアルアクセスユニットも付属しています。自動化された画像キャプチャマシンが搭載されているため、データの容易な保存と信頼性の高い画像選択が可能です。この顕微鏡は、静止画像と可動デジタル画像の両方を生成することができます。1455VPは、3次元表面イメージング(3D FIB-SEM)、利得制御イメージング(ACE)、 X線マイクロ分析データ(EDX)の生成など、さまざまな種類のイメージングに適しています。また、低真空ツールを備えているため、散乱を最小限に抑えた非導電面でのイメージングが容易です。LEO/ZEISS 1455VPは、産業、学術および医学研究におけるサンプル分析に不可欠な科学イメージング機器です。これにより、従来の顕微鏡では隠れている可能性のある特徴を特定することができます。高解像度のイメージングとサンプル調製の容易さにより、ハイエンドのSEM機能を必要とする研究者に人気があります。
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