中古 LEO / ZEISS 1450VP #9230342 を販売中

LEO/ZEISS 1450VPは、様々な材料から表面の非常に詳細な画像を生成するために使用される、可能な限り最高の解像度の走査電子顕微鏡（SEM）です。強力なSEM機能のユニークな組み合わせを採用し、試験片の表面積を探索する幅広い分析機能を提供します。その特徴は、優れた画質を提供し、試験片のコンポーネントの精密なイメージングを可能にする革新的な高解像度イメージングシステムを含みます。電界放出源は電子散乱が極めて低く、試料のコントラストを最大限に引き出すことができます。広い開口部では、壊れやすい標本でも高解像度のイメージングが可能です。LEO 1450VPは、自動化されたX-Yアライメント、イメージステッチ、スキャンステージの動き、倍率に対するソフトウェア制御など、多くの高度な操作機能も提供しています。これにより、同じサンプルから多数の重複画像を含むデータセットをキャプチャすることができ、標本の完全な画像を提供します。ZEISS 1450VPには、分析ハードウェアとソフトウェアの配列も組み込まれています。これには、エネルギー分散型X線分光法（EDS）と化学分析用の電子分光法（ESCA）が含まれる。X線 EDSはナノスケールで標本の組成を測定することができ、ESCA分析は原子レベルまで精度の高い表面化学に関する高解像度の情報を得るために使用されます。貴重なデータを提供する1450VPの可能性は、最大分解能0。7nm、最大30kVの加速電圧、および0。2-4nmの電子ビーム集中によって支えられます。また、セミフォーカルポイントスタイルのフィラメント、BSE検出器、チラー、オートセンタリング機能、および自動運転の可能性を利用しています。これにより、一般的な顕微鏡材料の特性評価から、非常に大規模で複雑なサンプルの説明まで、あらゆる試験片の検査と分析が可能になります。二次電子イメージング、X線マッピング、位相コントラストイメージング、デジタル画像処理、静的および動的画像強化、多軸解析など、幅広い分析技術も利用できます。全体として、LEO/ZEISS 1450VPは、理工学分野における幅広い用途の材料、表面、部品の検査に優れた手段を提供します。その洗練された特徴と高精度と解像度を兼ね備えたこのSEMは、多くの標本研究において卓越した選択肢となっています。