中古 LEO / ZEISS 1450VP #293660400 を販売中

LEO/ZEISS 1450VP走査型電子顕微鏡（SEM）は、包括的なサンプル分析用に設計された高性能機器です。前世代のSEMと比較して精度と汎用性が向上した高解像度イメージングおよび分析システムを誇っています。LEO 1450VPの標本室は、直径8 cmまでの標本を保持するように設計されています。これは、非破壊深度プロファイル、ならびに二次および/または後方散乱電子イメージングを行うことができます。ZEISS 1450VPのコラムには、20,000時間以上の寿命を持つ超高信頼性のXライン電界放射砲（FEG）が装備されています。この高品質源は、表面1450VP滑らかであるか荒いかにかかわらず、優れた二次電子画像を確実に生成します。必要に応じて電子強度を調整する調整可能な動作パラメータを備えています。LEO/ZEISS 1450VPは、垂直リフトステージを内蔵した回転傾斜/回転試験片ステージを備えています。傾斜ステージはサンプリングを容易にし、垂直リフトは顕微鏡の操作の柔軟性と範囲を増加させます。Edmund Optics 3D光学超解像装置や二次電子検出器などの追加アクセサリは、イメージング実験の精度と精度を向上させるのに役立ちます。LEO 1450VPはまた、元素解析、位相解析、結晶構造解析など、幅広い分析機能を備えています。そのエネルギー分散X線分光法（EDX）マシンは、サンプル内の要素と相の検出と定量の両方を可能にします。サンプル上の結晶構造を分析するためのGADDS回折計が付属しています。ZEISS 1450VPには、0。1ナノメートルのサンプルの動きを検出する高精度の変位センサもあります。1450VPには、より使いやすくするさまざまなソフトウェアオプションがあります。Eagleソフトウェアスイートには、ポイント&クリックGUIインターフェイス、SEMイメージングレシピのライブラリ、高度な分析ツールが含まれています。スマートワークフロー機能を使用すると、最適なイメージングや分析のためにFEGビームを素早く簡単に狙うことができます。LEO/ZEISS 1450VPの設計においても、ユーザビリティが大きな要因となっています。ビデオカメラ、フットスイッチコントロール、真空コントロールパネルなどの重要な機能を備えています。LEO 1450VPには、電子ビームのフェイルセーフメカニズムも装備されており、オペレータと試験片の安全性を保証します。ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscopeは、堅牢な設計、幅広い機能、直感的なソフトウェアを備えており、材料研究のための高度な分析を行う研究者に最適です。非常に柔軟で汎用性が高く、さまざまなサンプル探索および分析ニーズに最適なプラットフォームを提供します。