中古 LEO / ZEISS 1450 #9161452 を販売中
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ID: 9161452
Scanning electron microscope (SEM)
Electron source: Tungsten
Resolution:
2.5nm at 30kV (LaB6)
3.5nm @30kV (W)
5.5nm @30kV (BSD-VP mode)
Includes:
EDS
EBSD
Magnification range: 9x to 900000x
Probe current
1pA to 1uA Optibeam controlled
Accelerating voltage: 200 V to 30kV
Variable pressure: 1Pa to 400Pa
Detectors: Everhart thornley with VPSE / VPSE or BSD
Chamber: 300 mm x 270 mm x 224 mm (H)
5-Axis motorized stage:
X-Travel: 100 mm
Y-Travel: 125 mm
Z-Travel: 60 mm (35 mm motorized)
Rotation: 360° continuous
Tilt: 0° to 90°
Image processor resolution: Up to 3072 x 2304
Image processing:
Pixel averaging
Continuous averaging
Frame integration
Oil diffusion pump main vacuum
Roughing pump
~1999 vintage.
LEO/ZEISS 1450スキャン電子顕微鏡(SEM)は、電子を使用してさまざまなサイズや材料のサンプルの詳細な画像を作成する高解像度イメージングツールです。LEO 1450 SEMは、偏向システムを使用してサンプル上でスキャンされる集中電子ビームを生成することによって動作します。ビームの発生角度を制御することで、サンプルの立体画像を生成することができます。電子は各元素に固有であるため、試料中の各元素の濃度を示す元素マップを作成することができます。ZEISS 1450 SEMには、それぞれ10kVと30kVのエネルギーで動作する2つの電子源が装備されています。これにより、絶縁体や導電性材料を含む幅広い材料をイメージングすることができます。機械によって生成された画像の解像度も、最大0。5nmの横分解能と最大0。25nmの軸分解能に達する非常に高いです。さらに、1450 SEMには様々な検出器が搭載されており、試料からの信号を受信することができます。これらには、ビーム電流を測定するために使用されるファラデーカップ、サンプルからの低レベルのエネルギーX線を検出するために使用されるシンチレーションカウンター、サンプルの元素組成をマッピングするために使用されるエネルギー分散分光(EDS)検出器、および表面の画像処理に使用される背面散乱電子(BSE)検出器が含まれます。LEO/ZEISS 1450 SEMは、粒度、体積、気孔率、膜の厚さ、表面積、表面の質感などのパラメータの測定を含む定量分析も可能です。分光解析も可能で、組成、光定数、インピーダンス、誘電定数、磁性など様々な特性を測定することができます。結論として、LEO 1450 SEMは、幅広い材料とサイズのサンプルの分析とイメージングに使用される強力なツールです。高解像度画像、定量解析、分光解析を提供し、研究や産業用アプリケーションにとって非常に貴重なツールとなっています。
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