中古 LEO / ZEISS 1440VP #9255473 を販売中

LEO/ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope （SEM）は、原子レベルのイメージングのための最先端の顕微鏡ツールです。その高度な機能は、その低電圧電子ビームを介して高分解能イメージングを可能にします。これにより、マイクロ電子部品の故障解析など、非常に高解像度のイメージングを必要とする敏感なアプリケーションに適しています。LEO 1440VP SEMは、1kVと5kVの両方の種類で利用可能で、最大解像度2nmの画像を可能にします。また、インレンズ検出器の設計により、低ノイズで高速撮影が可能です。このデザインはまた、非常に広い視野を提供し、歪みを最小限に抑えた大型サンプルのイメージングを可能にします。さらに、顕微鏡には、電子ビームをサンプルまたは後方散乱検出器に自動アライメントするための透過計が装備されています。ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscopeの他の機能には、高速イメージングモードがあり、画像を高速に表示および分析することができます。この機能により、解像度を維持しながら、非常に短い露出で複数の画像をキャプチャすることも可能になります。この顕微鏡はまた、幅広い検出器をサポートしており、エネルギー濾過イメージングや元素分布マッピングなど、さまざまなイメージングモードをキャプチャすることができます。1440VPスキャン電子顕微鏡は、優れた感度で高解像度の画像を生成することができる強力なイメージングツールです。その幅広い機能により、故障解析、要素分布マッピング、繊細な材料や部品の微細構造解析など、さまざまなアプリケーションに適しています。この高度で堅牢なSEMにより、複雑な微細構造の解析が可能になり、電子工学、材料科学、ナノテクノロジーなどの分野で活躍する科学者やエンジニアに最適です。