中古 LEO 435VP #185414 を販売中

LEO 435VPはZeiss社が製造した高級走査型電子顕微鏡（SEM）です。最大500,000xの拡大が可能で、元素分析用のエネルギー分散分光（EDS）システムを内蔵しています。これは、試料の物理的構造に関する詳細な情報を提供するのに役立ちます。LEO 435 VPは、電子銃の技術の最新の進歩であるdynaFEGソースを持っています。これにより、電子ビームの明るさと安定性が向上し、高解像度の画像と分光データが可能になります。これは、10 nm未満の解像度で二次電子画像や後方散乱電子画像を取得することができます。このSEMには、高輝度のX線ジェネレーターもあります。標準解析では最小構成が0。2％の元素を検出することができます。EDSシステムとX線ジェネレータの両方が組み込まれているため、地質学的および生物学的サンプルを分析するための理想的なツールとなります。オペレータのユーザビリティを向上させるために、435VPには包括的な機能を備えた合理化されたユーザーインターフェイスがあります。画像解像度と粒子フラックスを変更するための複数の設定があります。これにより、分析対象サンプルのSEMを微調整しやすくなります。さらに、435 VPは高度なオートメーション機能も備えています。これにより、最小の演算子入力で同じプログラムを複数回繰り返すことができます。また、サンプル内の粒子を自動的に検出して識別できる統合分析システムを備えています。全体として、LEO 435VPは電子顕微鏡の走査において優れた選択肢です。その高度な電子銃とX線ジェネレータは、詳細な画像と分光データを生成します。また、複数の自動設定と直感的なユーザーインターフェイスを備えています。これは、オペレータの時間を短縮し、実験の精度を向上させるのに役立ちます。