中古 KLA / TENCOR EV200 #9223844 を販売中

KLA/TENCOR EV200は、材料分析の研究に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。高精細で立体的な画像を提供するように設計されており、ユーザーは様々なデータを得ることができます。KLA EV200の高度な技術により、最大120,000xまでの幅広い一次および二次顕微鏡の倍率で正確な動作が可能です。これにより、個々の原子のような極めて小さな特徴を高い明瞭度で観察することができます。また、イメージング時に高い安定性と均一性を発揮する電界放射銃（FEG）を搭載しています。このFEGは、試料に焦点を合わせることができる電子ビームを生成し、それをスキャンして画像を形成します。さらに、TENCOR EV200は大きなチャンバーを備えており、サンプルにさまざまなジオメトリを持たせることができます。これには、コーティング、フィルム、有機材料などの低コントラストおよび広域試験片のスキャンが含まれます。さらに、機械的振動や湿度が低い環境で試験片を保持するように設計されており、可変圧力による解析が可能です。また、EV200には統合された画像解析ソフトウェアスイートがあり、ユーザーは自動ツールを使用して高速で標本を分析することができます。これには、自動フィーチャー検出、多層分類、3Dモデリング機能などの機能が含まれます。さらに、このソフトウェアは、マイナーな変更を行うことにより、画像の正確な分析を可能にするように設計されています。さらに、KLA/TENCOR EV200には多数の統合検出器があり、ユーザーはさまざまな角度からデータをキャプチャできます。1つ目は、表面トポロジーや微細構造の評価に使用できる高分解能画像を生成する二次電子検出器（SE）です。さらに、BSE （Signal Electron Detector）は電子後方散乱によって決定され、組成、厚さ、粒度、質感に関する貴重なデータを提供します。Fast Electron Detector （FE-SEM）は、高速で分解能の高い物体から電子信号をキャプチャするために使用されます。結論として、KLA EV200は、顕微鏡サンプルの迅速かつ効率的で詳細な画像を提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。その強力な機能と統合された検出器により、研究者は高精度のデータを得ることができ、統合された画像解析ソフトウェアスイートはサンプルの迅速な分析を可能にします。