中古 KLA / TENCOR 8100XPR #293649625 を販売中

ID: 293649625
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XPRは、高解像度イメージングとアプリケーションの制御をさらに強化するために設計された次世代スキャン電子顕微鏡(SEM)です。特許取得済みのX線投影テクノロジーを採用することで、KLA 8100XPRはイメージングと解析の両方においてこれまでにないレベルの詳細と精度を実現します。TENCOR 8100XP-Rは、最大2。5nmの解像度で画像を作成することができ、ナノ粒子などの微細な物体を極めて詳細に画像化することができます。このディテールのレベルは、イメージングプロセスの一部として使用されるユニークなX線投影システムの組み込みによって達成されます。このシステムを使用すると、SEMはイメージされるオブジェクトの内部機能と外部機能の両方をキャプチャできます。さらに、X線投影、イメージング、解析を組み合わせることで、KLA 8100XP-Rは従来のSEMシステムと比較して、より高い精度、深さ、詳細を達成することができます。KLA/TENCOR 8100XP-Rは、幅広い分析機能も提供しています。高真空・高環境動作の両方で画像を捉えることができ、温度、湿度など様々な環境要素にさらされた標本の分析が可能です。これは、TENCOR 8100XPRが環境に関係なく標本を測定できることを意味します。さらに、8100XP-Rは、高度な元素および化学組成マッピング機能と、サブナノメートルの高解像度イメージングのための高度なナノトポグラフィー機能を提供します。最後に、8100XPRには強力なソフトウェアスイートが装備されています。これには、汎用性の高いユーザーインターフェイス、強力な分析ツールのスイート、顕微鏡の使用をより効率的にするさまざまな自動オプションが含まれます。ソフトウェアスイートを使用すると、強力なテクニカルサポートオプションと重要なデータアーカイブ機能にアクセスできます。全体として、KLA/TENCOR 8100XPRは、比類のない解像度と精度を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。高レベルの画像を高精度にキャプチャして分析することができるため、研究開発や製造アプリケーションに最適なツールです。
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