中古 JEOL JXA 840 #9173746 を販売中

JEOL JXA 840は、材料を高解像度で可視化するための重要なツールである走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、数ナノメートルの解像度で構造や特徴を観察することができます。これにより、金属、セラミックス、半導体、生物標本など、さまざまな材料の詳細な研究が可能になります。JXA 840は、電子ビームを利用してサンプルをスキャンし、詳細な画像を作成します。この機器は、高速スキャンを可能にする完全に自動化された高精度のX-yスキャンドライブを備えており、高スループットを必要とするアプリケーションに最適です。この装置は、0。05から30kVまでの可変加速電圧を提供し、幅広い種類のサンプルタイプのイメージングおよび元素解析を可能にします。従来のイメージングに加えて、低kVイメージングからクライオ条件まで、さまざまな特殊なイメージング機能を提供しています。この装置には、統合された光学顕微鏡が含まれており、サンプルの視覚的および電子的観察を可能にします。この機能は、より大きな倍率範囲を必要とするサンプルを調べるのに特に役立ちます。JEOL JXA 840には、サンプル組成の分析に使用できるエネルギー分散分光法（EDS）のオプションが含まれています。また、電磁干渉から保護された保護性の高い低振動、高感度EDS検出器を備えており、正確で信頼性の高い元素解析結果を得ることができます。この装置は、10Cから600Cまでの温度範囲の大きなサンプルチャンバーを備えているため、熱解析などの幅広い温度依存アプリケーションに適しています。さらに、様々な試料表面の地形を再現・保存するために有用な、様々な蒸着金属を備えたサンプルメタライザを搭載しています。全体として、JXA 840は高精度で解像度の非常に汎用性の高いSEMであり、幅広い研究アプリケーションに適しています。統合されたイメージングおよび分析機能により、ナノスケールでの材料の特性評価、分析、およびイメージングのための貴重なツールです。