中古 JEOL JXA 733 #9373251 を販売中

JEOL JXA 733は、幅広い種類の標本を撮影し、高度な分析機能を提供する高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。高解像度のイメージングと分析機能を備え、微細構造や材料の探索に最適なプラットフォームを提供します。JEOL JXA-733は、30倍から30,000x倍までのサンプルを様々なイメージングモードでスキャンすることができます。高解像度のデジタル画像や表面情報を優れた精度でキャプチャできます。電子、イオン、中性原子などの荷電粒子を解決するために、高出力の低電圧スキャンを使用することができます。低電圧トランスミッションおよび二次電子イメージング機能により、低コントラストのディテールが向上した粒子の観察が可能です。さらに、半自動の逆散乱電子イメージングと差動コントラスト画像により、複雑な材料を高コントラストで観察することができます。JXA 733はまた、元素マイクロアナリシス機能を提供します。エネルギー分散型X線分光法（EDS）を用いてサンプルの組成を解析し、サンプルの元素構造を決定する。また、電子ビーム誘導充電を利用し、非導電性サンプルの同定を可能にします。さらに、オーガー電子分光法を使用して、表面組成をさらに分析し、サンプル表面層を分析することができます。EELS（電子エネルギー損失分光法）は、バルク情報を解析し、サンプル内の元素の高分解能分布を提供することができます。JXA-733には自動化されたインターフェイスが付属しており、ユーザーエクスペリエンスを向上させます。その制御システムは、顕微鏡を操作して、シンプルで使いやすいインターフェースでリアルタイムで正確にデータを取得します。スキャンテーブルには、オートフォーカス、自動サンプル識別、簡単なスキャンターゲット調整、交換可能なサンプルステージなど、幅広い機能があります。JEOL JXA 733は、高解像度イメージングと高度な解析機能を備えた、パワフルで機能豊富な走査型電子顕微鏡です。自動化された制御と幅広いイメージングおよび分析技術により、マイクロストラクチャーや材料を探索する研究者にとって理想的なツールとなります。