中古 JEOL JWS 7555S #293628489 を販売中
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JEOL JWS 7555Sは、幅広い分析用途向けに設計された汎用性の高い高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この高度なモデルは、最適化されたイメージング、元素マイクロアナリシス、ビームリソグラフィ機能のために設計されています。JEOL JWS-7555Sは、ロボティクスベースのナビゲーションとナビゲーション制御光学を提供し、イメージング品質とユーザーエクスペリエンスの大幅な改善をもたらします。JWS 7555 Sは、自動化されたステージコラムと電動カラムにより、フォーカス調整やステージムーブメントなどの自動測定が可能です。JWS 7555Sの堅牢な性能と高度な機能により、粒子解析、ラインスキャン、化学分析、イメージング、構造研究など、最高の精度で幅広いタスクを実行できます。JEOL JWS 7555 Sは、後方散乱電子イメージング、EDS元素解析、その他様々な関連解析が可能です。JWS-7555Sは高解像度のイメージングが可能で、8nmレベルの超高解像度イメージングを可能にします。統合されたモノクロメータにより、軽元素と重元素の両方で高解像度のイメージングが可能です。JEOL JWS 7555Sはまた、サンプルの詳細のより広い範囲を観察することを可能にする広い視野（FOV）を提供します。さらに、より高解像度の3Dイメージングのためのより大きな被写界深度（DOF）、より正確な画像解析のためのより良いコントラストを達成することができます。JEOL JWS-7555Sには、自動解析を提供する高度なソフトウェアが付属しています、秒でピークプロファイルを計算します。また、自動SEMイメージング、データ収集、自動解析など、さまざまな自動機能も提供しています。JWS 7555 Sは、革新的な低真空チャンバ（LV）も備えており、低真空から高真空まで幅広い条件下でサンプルを観察および分析することができます。JWS 7555Sは、二次電子（SE）、逆散乱電子（BSE）、 X線、紫外線フォトエレクトロン（UVP）、 X線分光法、EELS （Diffaction Backscatter）など、さまざまな用途の検出器も提供しています。全体として、JEOL JWS 7555 Sは高度で高性能な走査型電子顕微鏡で、さまざまな機能、強力な機能、優れたユーザーエクスペリエンスをユーザーに提供します。このSEMは、高解像度イメージング、高度な分析機能、さまざまな自動機能を提供する高度な機器を必要とする科学者やエンジニアにとって理想的な選択肢です。
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