中古 JEOL JWS 7555 #9298946 を販売中

JEOL JWS 7555は、表面や構造の高解像度イメージングおよび解析用に設計された、ハイエンドスキャン電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は5nm分解能のポイント・ツー・ポイント精度を備えており、20ナノメートル以上の特徴の詳細な画像を作成することができます。コラムは、低加速とフィールド放出の両方に最適化されており、最大のパフォーマンスと分解能を確保します。JWS 7555には、超高感度超高速電子検出器が搭載されており、信号対雑音比を向上させ、超小型画像を極低レベルの電子照明で撮影することができます。このカラムには調整可能な動作電圧があり、オペレータはSEMの物理パラメータを変更せずに動作パラメータを調整することができます。この顕微鏡は高度な後処理パイプラインを備えており、ユーザーは画像の結果を分析および編集し、精度を高め、さらに3次元の画像と測定を可能にします。さらに、SEMは、データ収集タスクを高速化するための自動インタラクションと、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えています。JEOL JWS 7555は、日常的な故障や欠陥解析、エレクトロニクス、医療機器工学、さまざまなナノ構造など、さまざまなアプリケーションに最適化されています。その高分解能と調整可能な電子ビームパラメータにより、表面および質量分析、要素マッピング、高分解能イメージング、信号/ノイズ特性評価など、幅広い測定が可能です。その結果、JWS 7555は詳細な故障解析、欠陥分離、物理特性評価に最適なツールです。JEOL JWS 7555は、高度で信頼性の高いSEMを必要とするあらゆる実験室や生産環境に最適な追加です。直感的なユーザーインターフェイスと汎用性の高いアプリケーションにより、表面または構造を迅速かつ正確に分析し、必要に応じて正確に結果を提供するための完璧なツールです。その結果、効率的かつ正確な分析を迅速かつ容易に行うことができます。