中古 JEOL JWS 7555 #293758236 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JWS 7555
ID: 293758236
ヴィンテージ: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM) 2004 vintage.
JEOL JWS 7555は、研究および産業用途向けの走査型電子顕微鏡(SEM)です。この顕微鏡は、高解像度イメージングと高度な解析機能を組み合わせて、幅広いSEMアプリケーションに対応しています。デリケートなサンプルのイメージングを可能にする超高真空装置、理想的なイメージング条件のための検出器やアクセサリの広い範囲を備えています。JWS 7555は、可変圧力SEM (VP-SEM)構造を採用し、0。1〜400 Paの観察室圧力範囲での柔軟性を実現しています。超広視野(UWF)接眼レンズを内蔵し、サンプルの鮮明で大きな画像を提供し、高度なステージ振動減衰システムは安定した画像を提供します。顕微鏡には、SE、 BSE、レンジディテクタ、CCDなどのさまざまな検出器やアクセサリも搭載されています。JEOL JWS 7555は、自動マッピングおよびX線分析システムと互換性があり、サンプルを簡単に分析できます。高度な画像処理技術には、領域とエッジ位置精度を測定するPixel-By-Pixel Analysisと、高度な画像操作と分析のためのイメージフィルタが含まれます。サンプル調製のために、JWS 7555には、自動サンプルフィーダ、自動サンプル乾燥ユニット、および統合されたCO2フラッシュ加熱機が含まれています。45kVまでのチップ加速電圧を備えたサンプル直径ホルダーは、電気解析に適した低消費電力で高解像度の画像処理環境を提供します。高精度な傾斜調整と検出器の再現性を実現する統合自動SEMガンアライメントツールも付属しています。資産全体は、ハードウェアパネルとWindowsベースのPCコントローラを介して制御され、高機能ユーザーインターフェイスとトップレベルのパフォーマンスを提供します。この顕微鏡は、材料科学やライフサイエンス、産業検査や品質管理の分野で頻繁に使用されています。幅広いイメージングおよび解析ニーズに対応できるように設計されています。
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