中古 JEOL JWS 7515 #9392789 を販売中

JEOL JWS 7515
製造業者
JEOL
モデル
JWS 7515
ID: 9392789
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515は、優れた画質と分析機能を提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、原子レベルまでの表面特徴の優れた高解像度、低倍率イメージングを提供します。7515は、エネルギー分散分光法(EDS)、波長分散分光法(WDS)、カソドルミネッセンス(CL)、電子逆散乱回折(EBSD)の幅広い分析技術を備えています。7515には広い標本室があり、様々なサンプルサイズや形状に対応できます。大型チャンバーは、自動試料処理と連動して、効率的な試料位置決めを可能にします。また、ウルトラマイクロトミー(UMT)、クリティカルポイントドライ(CPD)、低真空(LV) STEMイメージングなどの複数のモードでの動作も可能です。7515には列内エネルギーフィルタリングオプションがあり、ユーザーは選択したアプリケーションに最適な分析機能を選択できます。軸上の電子銃は構造損傷を減らすために低電圧まで提供します。電子ビームの安定性が高いため、低電圧画像では優れた信号対ノイズ比が得られ、サンプル損傷のリスクを低減し、最大限の試料保存を可能にします。7515は、優れた自動画像取得制御と試験片ステージの簡単な自動操作を提供します。ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)ソフトウェアで、EDS、 WDS、 CL、 EBSDの分析および可視化機能を備えています。7515は複数のノイズ低減モードで動作するため、画像アーティファクトを最小限に抑え、手動で画像を調整する必要がなくなります。JEOL JWS-7515の高解像度・高解像度解析機能により、多くの科学・学術分野の査読者にとって強力なツールとなっており、その汎用性は多様な研究ニーズに適しています。その安定した電子銃およびユーザーフレンドリーなソフトウェアはそれを新しいユーザーのための容易な選択にします。その高度な分析機能と自動標本処理システムは、高度なユーザーのための強力なツールとなります。
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