中古 JEOL JWS 7515 #9249356 を販売中

JEOL JWS 7515は、大型試料の精密イメージングを可能にする高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。高度なイメージング機能と高精度な解析機能により、幅広いイメージング用途に最適です。JEOL JWS-7515は、新たに15ナノメートル超低ノイズ性能検出器を搭載し、低ノイズで信頼性の高い画像処理結果を提供します。これにより、SEM画像の変色の発生を低減し、画像キャプチャを高速化することができます。また、5軸のサンプルステージを備えており、大型サンプルの最適なイメージングを可能な限り詳細に撮影するために、サンプルを傾けて回転させることができます。JWS 7515には、精密スキャン結果の自動検出およびフォーカス機能も含まれています。ユーザーフレンドリーなSEM-CON （Automated Environment Control）システムにより、正確で再現性の高い手法を簡単かつ迅速に開発できます。また、サンプルの安定性を高め、イメージング感度を向上させるための光学ユニットも改良されています。さらに、JWS-7515は高度なデータ分析機能も備えています。専用アプリケーションソフトウェアにより、取得したデータから元素組成、画像形態、粒度を解析できます。また、ナノメートルスケールまでの個々の粒子の精密な分析を可能にする粒子分析機を備えています。全体的に、JEOL JWS 7515は、イメージングニーズに汎用性と信頼性の高いソリューションを提供しています。高度な検出ツール、精度と再現性を実現する自動化された機能、堅牢なデータ解析機能を備えているため、幅広いプロセスで高レベルのイメージングと精密な分析を可能にする理想的なツールです。