中古 JEOL JWS 7515 #9174206 を販売中

JEOL JWS 7515スキャン電子顕微鏡（SEM）は研究者のための高度なツールです。このSEMは、ディテールと精度で幅広い材料表面を調べるためのさまざまな機能を提供します。そのユニークなデザインは、材料の検査からナノ管研究まで、幅広い用途を可能にします。JEOL JWS-7515には、高解像度イメージング用の高度な電界放射銃（FEG）があります。5kVの最大加速電圧により、高倍率の高分解能イメージングが可能です。このデバイスには、直径80mmまでのサンプルの移動を可能にする、大規模で積極的に安定化されたチャンバーが装備されています。さらに、SEMには強力なポストコラム・エネルギーフィルタ（PCEF）があり、正確な要素識別が可能です。高解像度イメージング機能に加えて、JWS 7515にはさまざまなユーザーフレンドリーな機能があります。自動化されたコレクションと自動化されたデータ分析を備えたユーザーフレンドリーなソフトウェアがあります。さらに、FEGによる自動ドリフト補正により、画像の安定性と再現性を向上させます。JWS-7515は、幅広いサンプル範囲を備えた堅牢な自動サンプルステージを備えています。可変圧力電子銃を内蔵した非導電性サンプルのイメージングが可能です。さらに、装置は複数の角度からデータを収集するための複数の検出器をサポートしています。このデバイスはまた、3列の高性能サンプル準備ステーションを備えており、サンプルの読み込みが容易です。JEOL JWS 7515にまた調節可能な傾斜角度を可能にする独特な傾き制御システムがあります。この機能により、サンプルが電子ビームに適切に露出し、到達困難なサンプルからもデータが取得されます。最終的に、JEOL JWS-7515は、その高度なエンジニアリングのために非常に信頼性が高いです。電子照射による損傷からサンプルを保護する機能を備えています。さらに、SEMは電子のフィルタリングにおいて非常に効率的であり、より信頼性の高い高品質のデータ取得をもたらします。要するに、JWS 7515は、幅広い機能とユーザーフレンドリーなソフトウェアを備えた強力な走査型電子顕微鏡です。高解像度で高度なイメージングが可能であり、正確な要素識別が可能です。さらに、SEMはサンプルの自動調製と傾き制御、データ解析とドリフト補正を提供します。これは、詳細なイメージングと分析を必要とする研究者やエンジニアに最適な信頼性と堅牢性の高いツールです。