中古 JEOL JWS 7505 #9278048 を販売中
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ID: 9278048
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
HP Series 700i PA-Risc computer
(6) THERMO NORAN X-Ray spectrometers
With C10018 Micro-analysis system
Control console
Power supply cabinet
Manual included
Power supply: 200 V, 40 A, 8 kVA, 3 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JWS 7505は最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。高解像度、様々なサンプルタイプとの互換性、高度なイメージング機能により、多くの産業および研究用途に理想的な機器です。物理組成の面では、ベースモデルのJEOL JWS-7505は、超安定性設計の可変圧力SEMカラム、高分解能のコールドフィールド放出電子源、5ポジションサンプルチェンジャー、9インチ生成のショットキー電界放出電子源を備えています。また、超広視野技術、モジュラーイオン検出ユニット、電子光学測位用の高安定磁界プレートを搭載しています。JWS 7505は、エネルギー分散分光法(EDS)、電子後方散乱回折法(EBSD)、波長分散分光法(WDS)などの高分解能・高コントラスト画像・分光が可能です。同様に、自動イメージング、要素マッピングの自動化、自動測定、ポストプロセスデータ抽出などの分析機能も可能です。また、試料調製においJWS-7505は、真空実装、従来の真空コーティング、クライオフラクチャー共焦点イオンビームスライシングなど、さまざまな従来の試料準備技術が可能です。電子ビーム自体は、最大1000 µmの幅で変化することができます。さらに、液体窒素温度制御エッチングステージ、二列真空発煙フード、グローブボックス、精密微細加工ステージなど、サンプル準備機能を拡張する様々なアクセサリーがあります。JEOL JWS 7505は非常に洗練された走査型電子顕微鏡で、多くの産業および研究アプリケーションに高品質の結果を提供することができます。物理組成、分析機能、サンプル調製機能を組み合わせることで、市場で最も人気のあるSEMの1つになります。
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